판매용 중고 AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT Medalist X6000 #9263302

AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT Medalist X6000은 비파괴 테스트에 사용되는 고성능 다용도 X-ray 시스템입니다. 금속에서 플라스틱에 이르는 다양한 물질에서 결함, 균열, 부식, 기타 결함을 테스트하도록 설계되었습니다. HP Medalist X6000의 뛰어난 X-ray 성능을 통해 가장 작고 가장 넓은 결함을 감지할 수 있습니다. 실시간 이미지 처리, 완전 자동 교정, 디지털 이미지 처리 등의 고급 기능을 통해 문제 영역을 정확하고 신속하게 감지할 수 있습니다. AGILENT Medalist X6000은 최대 4 개의 X-ray 이미지를 동시에 제작할 수 있으며, 뛰어난 단층 촬영 및 심층 이미징 기능을 갖추고 있습니다. 고해상도 비정질 실리콘 (a-Si) 검출기는 물질을 통과하면서 X- 선 광자를 검출하는 데 사용됩니다. X선 (X-ray) 은 재료와 상호 작용하여 검출기가 정보를 수신하고 재료 이미지를 생성할 수 있도록 합니다. 메달리스트 X6000에는 대비 조작, 디지털 이미지 패닝, 에지 향상, 정확한 분석을 위한 히스토그램 비교 등 다양한 이미지 개선 옵션이 있습니다. 이 시스템은 고급 후처리 및 분석 (After Processing and Analysis) 기능을 사용하여 제조 결함을 감지하여 안전하고 안정적인 제조 출력을 보장합니다. HEWLETT-PACKARD Medalist X6000은 프로토타입, QC 및 작업 사이트 검사에도 적합합니다. 고급 이미징 기능과 실시간 데이터 분석 기능을 통해 원격 진단 (Remote Diagnostics) 을 수행할 수 있습니다. 이 시스템은 혹독하고 위험한 환경에 설치할 수 있으며, 매우 견고하고, 오래 지속될 수 있도록 설계되었습니다. KEYSIGHT 메달리스트 X6000은 사용 편의성을 고려하여 제작되었습니다. 직관적이고, 그래픽 사용자 인터페이스 (Graphical User Interface) 및 전용 하드웨어를 통해 운영자는 최소한의 교육을 통해 재료를 빠르고 효율적으로 테스트할 수 있습니다. AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT Medalist X6000의 모듈식 설계를 통해 다양한 어플리케이션에 맞게 구성할 수 있으며, 높은 수준의 유연성은 앞으로 몇 년 동안 기술 발전에 부응할 것입니다.