판매용 중고 AGILENT / HP / HEWLETT-PACKARD / KEYSIGHT Medalist X6000 #9149487

AGILENT/HP/HEWLETT-PACKARD/KEYSIGHT Medalist X6000은 재료, 전기 부품 및 PCB (인쇄 회로 보드) 를 빠르게 분석하도록 설계된 고급 X- 레이 시스템입니다. HP Medalist X6000은 모든 유형의 X-Ray 검사 및 이미징에서 뛰어난 효율성과 품질을 제공합니다. 이 X-ray 시스템은 설치, 운영 및 데이터 분석을 위한 완전 통합 소프트웨어 제품군을 제공하여 구리 와이어, 트랙에서 고정밀 (high-precision) 결과의 복잡한 컴포넌트 형상까지 다양한 재료를 세심하게 분석할 수 있습니다. X6000은 양식을 보다 선명하게 인식하고 명암을 줄일 수 있는, 정확도가 높은 마이크로 포커싱 소스를 갖추고 있습니다. 다른 검사 시스템, 최대 2000 라인페어/mm (lp/mm) 보다 훨씬 큰 해상도를 허용합니다. 고급 고해상도 이미징 기능을 갖춘 X6000은 모노 크로마틱 (mono-chromatic) 및 트리크롬 (trichrome) 모드에서 아날로그 이미지의 라인 스캐닝 및 디지털 이미징을 모두 수행하므로 다양한 오브젝트를 다양한 색상과 회색 그림자의 음영으로 표시할 수 있습니다. AGILENT Medalist X6000은 ADM (Automatic Defect Marking) 및 ADR (Automatic Defect Recognition) 기능을 통해 구축됩니다. ADM 은 X-ray 이미지의 결함 피쳐를 자동으로 표시하므로 객체가 이해하기 어려운 경우에도 연산자에게 쉽게 표시됩니다. ADR은 현재 이미지와 과거 이미지, 자동 샘플 중첩, 고급 머신 러닝 (advanced machine learning) 기술을 고려하여 잘못된 경보를 줄입니다. 자동 분류는 허용되는 결함과 허용되지 않는 결함을 효과적으로 구별 할 수 있습니다. 자동 결함 인식 기능 외에도 HEWLETT-PACKARD Medalist X6000에는 CT (computed tomography) 및 2D/3D 뷰와 같은 고급 이미징 기능도 포함되어 있습니다. CT는 컴포넌트의 재료 두께를 정확하게 측정할 수 있으며, 결합된 2D/3D 뷰를 통해 연산자는 동적 텍스처 (dynamic texture) 와 고대비 (high contrast) 를 통해 사실상 x- 선 이미지를 실시간으로 회전시켜 가장 어려운 기능을 쉽게 관찰할 수 있습니다. 수많은 고급형 이미징 기능 외에도, X6000 은 빠른 설치 시간, 대용량 메모리 용량을 제공합니다. 이 시스템은 단일 스캔에서 최대 10 개의 표본을 수용할 수 있으며, 데이터 저장 및 검색을 위해 최대 10GB X-ray 이미지를 저장할 수 있습니다. 사용자 친화적 인 소프트웨어 인터페이스는 명확히 구조화된 분석, 보고서 생성기 (Report Generator), 익스포트 인터페이스 (Export Interface) 를 제공하여 초급 및 전문 사업자 모두에게 쉽게 사용할 수 있습니다. 메달리스트 X6000 (Medalist X6000) 은 재료, 컴포넌트 및 PCB의 빠르고 정밀도 높은 분석을 위한 탁월한 도구입니다. 사용자 친화적인 기능, 정교한 이미징 기능, 빠른 설치 시간 등을 통해 모든 X-Ray 검사와 이미징 작업을 손쉽게 선택할 수 있습니다.