판매용 중고 ZEISS Surfcom 130A #9091160

ZEISS Surfcom 130A는 반도체 웨이퍼를 정확하고 정확하게 측정하도록 설계된 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 시스템은 비접촉 (non-contact) 및 비파괴적 (non-destructive) 웨이퍼 분석을 수행할 수 있으며 사용자에게 웨이퍼의 기하학적 특성을 정확하게 검사, 확인 및 측정할 수 있는 기능을 제공합니다. Surfcom 130A는 고급 광학 기술을 사용하여 반도체 웨이퍼 표면의 2 차원 이미지를 캡처합니다. 이러한 이미지는 웨이퍼의 기본 특성 (예: 선과 다른 기하학적 피쳐 간의 간격) 에 대한 정확하고 안정적인 측정을 얻기 위해 사용됩니다. 이 장치에는 고해상도 CCD 카메라와 고급 옵티컬 벤치 (Optical Bench) 가 포함되어 있어 2 차원 이미지를 0.9 초의 해상도로 캡처할 수 있으며, 반도체 웨이퍼를 검사하고 측정 할 때 사용자의 정확성과 정밀도를 제공합니다. 또한 ZEISS Surfcom 130A (ZEISS Surfcom 130A) 에는 강력하고 사용하기 쉬운 제어 소프트웨어가 포함되어 있어 모든 시스템 매개변수 및 데이터 관리 작업을 제어할 수 있습니다. 이 소프트웨어를 사용하면 사용자의 요구 사항에 맞게 도구를 사용자 정의할 수 있으므로 웨이퍼 테스트 (Wafer Testing) 및 도량형 (Metrology) 을 위한 다용도 및 강력한 도구입니다. 또한 사용자는 빠르고 효율적으로 측정을 시작할 수 있으며, 다양한 소프트웨어 기반 알고리즘과 방법을 사용할 수 있으며, 도형 (shape), 프로파일 (profile) 분석 등의 고급 도량형 (metrology) 작업을 수행할 수 있습니다. 전반적으로 Surfcom 130A는 사용자에게 금속 및 유전체 웨이퍼 분석 및 측정을위한 강력하고 정확한 솔루션을 제공합니다. 고급 옵티컬 벤치 (Optical Bench), 고해상도 옵틱 (High-Resolution Optic) 및 강력한 소프트웨어를 사용하면 웨이퍼 측정이 정확하고 안정적일 수 있습니다. 이 자산은 사용자에게 광범위한 반도체 웨이퍼 (wafer) 를 분석, 측정할 수 있는 유연성을 제공하여, 측정이 정확하고 정확하다는 자신감을 부여합니다.