판매용 중고 WYKO / VEECO NT 9800 #9301086

WYKO / VEECO NT 9800
ID: 9301086
빈티지: 2010
Profiling system (RDL) 2010 vintage.
WYKO/VEECO NT 9800은 반도체 제조업체가 웨이퍼 및 기타 구성 요소의 특성을 정확하게 측정하도록 설계된 고성능 웨이퍼 테스트 및 도량형 플랫폼입니다. 이 플랫폼은 완전 자동 광학 검사, 고급 3D 이미징 기술, 통합 도량형 프로세스를 결합하여 정확한 데이터 포인트와 안정적인 결과를 제공합니다. WYKO NT 9800의 주요 기능에는 고속/저속 스캔, 고해상도 도량형, 고급 3D 이미징 기능, 자동 샘플 처리 기능, 고급 이미지 분석, 높은 처리량 데이터 획득 및 자동 장치 평가가 포함됩니다. VEECO NT 9800은 커패시턴스, 전기 저항, 스트레스, 이동성 및 프로파일 측정을 포함한 다양한 유형의 도량형 기능을 제공합니다. 이 시스템은 다양한 표면 지형을 매핑 할 수 있으며, 멀티헤드 스캐너 (multi-head scanner) 및 3D 이미징 시스템 (3D imaging system) 과 같은 고도로 정제된 장비를 사용합니다. 고급 3D 이미징을 통해 결정 구조, 미세한 지형 기능과 같은 자세한 정보를 정확하게 매핑하고 분석 할 수 있습니다. 또한, NT 9800 에는 여러 웨이퍼와 구성 요소를 동시에 관리할 수 있는 자동 샘플 처리 (automated sample handling) 시스템이 장착되어 있습니다. 웨이퍼 카세트를 사용하여 자동 로더 (Auto-Loader) 기능을 사용하면 프로세싱 스핀들 (spindle) 에 웨이퍼가 자동으로 로드되어 여러 웨이퍼를 빠르고 정확하게 테스트할 수 있으므로 시스템을 통한 지속적인 샘플 흐름이 가능합니다. WYKO/VEECO NT 9800에는 고속 및 저속 스캐닝을 포함한 다양한 스캐닝 옵션이 있으며, 이를 통해 웨이퍼 또는 컴포넌트의 빠르고 상세한 특성화가 가능합니다. 고속 스캔은 초당 평균 백만 데이터 포인트 (data point per second) 의 평균 획득 속도를 사용하며 매우 빠른 스캔 속도를 유지하면서 탁월한 해상도와 정확도를 제공합니다. 반면, 저속 스캔은 더 느린 스캔 시간에 최적화되어 현미경 (microscope) 아래 샘플의 더 자세한 3 차원 재구성을 제공합니다. 마지막으로, WYKO NT 9800 은 처리량이 높은 데이터 인수를 제공하며, 이를 통해 단일 스캔에서 많은 수의 웨이퍼를 신속하게 수집하고 분석할 수 있습니다. 이 프로세스를 통해 얻은 데이터는 실시간 디바이스 평가에 사용될 수 있습니다. 따라서 제조업체는 Wafer 및 Component 의 품질, 특성을 빠르고 정확하게 평가할 수 있습니다. 결론적으로, VEECO NT 9800은 반도체 제조업체에 매우 정확하고 안정적인 데이터 포인트를 제공하는, 고도의 고급 웨이퍼 테스트 및 도량형 플랫폼입니다. 자동 샘플 처리 기능, 고속 스캐닝, 고급 3D 이미지 처리 기능, 높은 처리량 데이터 획득 등을 갖춘 NT 9800 은 Wafer 및 기타 구성요소를 분석하기 위한 강력하고 다양한 플랫폼입니다.
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