판매용 중고 WYKO / VEECO NT 3300 #9150830

WYKO/VEECO NT 3300은 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비로, 심층적 인 프로세스 특성, 장애 감지, 이미징 및 IC (integrated circuit) 구조의 분석을 포함하여 다양한 고유 한 기능과 기능을 제공합니다. 이 시스템은 사용자가 개발, 제조되는 IC를 빠르고, 정확하게 측정하고, 평가할 수 있도록 설계되었습니다. WYKO NT 3300은 빠르고 정확한 웨이퍼 정렬을위한 자동 전동 웨이퍼 처리 장치, 고속 도량형, 웨이퍼 매핑 옵션, 다양한 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 전기 테스트 장비 등 다양한 혁신적인 설계 기능을 제공합니다. 이 시스템의 편리한 사용자 인터페이스는 워크플로를 단순화하고, 측정의 정확성과 반복성을 보장합니다. VEECO NT 3300은 또한 전기 및 물리적 측정을위한 강력한 도량형 기능을 제공합니다. 내성 (resistance), 정전용량 (capacitance), 전도성 테스트 (conductivity test) 와 같은 광범위한 전기 측정을 제공합니다. 또한 장애 격리를위한 전기 자극과 RF (Direct Current and Radio Frequency) 측정이 내장되어 있습니다. 물리적 도량형 기능에는 응력/변형 감지 및 플라스틱 측정, 비 접촉 표면 분석이 포함됩니다. 또한, 이 도구는 제조 공정을 검증할 수 있는 프로파일링 기능을 갖춘, 자동화된 단계 검사의 고유한 기능을 제공합니다. 자산의 이미징 기능을 통해 사용자는 프로세스 결함을 빠르고 정확하게 검색, 격리, 분석할 수 있습니다. 레이저 주사 현미경 또는 주사 전자 현미경 (SEM) 도구를 사용하여 IC 이미지를 캡처하고 분석 할 수 있습니다. 이미징 기능에는 단일 및 다중 레이어 모두에서 고해상도 이미지를 자동으로 캡처할 수 있는 3D 단면 (3D cross-section) 측정도 포함됩니다. 마지막으로, 이 기기는 다양한 하드웨어/소프트웨어 옵션을 제공하여 다양한 업계 요구 사항을 충족합니다. 기존 테스트 시스템의 일부 제한을 극복하는 데 도움이되는 다양한 맞춤형 프로브 (예: 패들 프로브, 커패시턴스 프로브, 열전대) 를 장착 할 수 있습니다. 이 소프트웨어는 데이터 분석 및 보고서 작성 자동화 (automated data analysis and report generation) 기능을 제공하여 전체 프로세스를 효율적이고 반복적으로 수행할 수 있도록 합니다. 전반적으로 NT 3300은 웨이퍼 테스트 및 도량형을위한 효과적이고 안정적인 모델입니다. 자동화된 전동 웨이퍼 처리, 고속 도량형, 이미징, 전기 테스트, 다양한 프로브 (Probe) 등 다양한 기능을 갖춘 고급 IC 개발 및 제조에 이상적인 선택입니다.