판매용 중고 WYKO / VEECO NT 2000 #293829552

WYKO/VEECO NT 2000은 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비로 웨이퍼의 완전한 특성에 대한 높은 정밀 측정 및 분석을 가능하게합니다. SAM (Mode Scanning Acoustic Microscopy) 모드에서 작동하여 최대 8 "직경의 고해상도 이미징 및 음향 측정을 제공합니다. WYKO NT 2000은 지형, 중요 치수, 재료 특성 등의 측면을 정확하고 빠르게 측정하도록 설계되었습니다. VEECO NT 2000은 고해상도 3D 지형 및 SAM 이미지와 웨이퍼의 음향 측정을 모두 캡처 할 수 있습니다. 고해상도 스캐너 (scanner) 와 최적화된 이미징 시스템을 사용하여 최대 1 미크론 해상도로 최대 8 "직경의 이미지를 캡처합니다. 또한 NT 2000 은 웨이퍼 (wafer) 당 사전 설정된 수의 이미지를 선택할 수 있는 기능을 제공하여 다양한 샘플에서 데이터를 손쉽고 효율적으로 얻을 수 있습니다. WYKO 장치는 웨이퍼의 임계 치수 및 재료 특성을 분석합니다. 500nm에서 1.2mm 사이의 최대 8 "웨이퍼 두께를 정확하게 측정 할 수 있습니다. WYKO/VEECO NT 2000은 온도 프로파일 및 유전성 프로파일을 포함한 다양한 측정을 제공합니다. 이 기계는 또한 고급 도량형 도구 (Advanced Metrology Tool) 를 갖추고 있으며, 이 도량형은 최적화된 프로세스 반복성과 향상된 웨이퍼 분석을 제공합니다. WYKO NT 2000은 또한 자산 챔버 내부의 환경을 제어하기위한 확장 된 기능을 제공합니다. 챔버에는 공기 입자를 걸러내는 입자 제어 모델 (particle control model) 이 장착되어 안정된 비활성 웨이퍼 처리 환경을 제공합니다. 장비는 또한 심도 높은 온도 조절 능력을 가지고 있으며, 이를 통해 운영자는 챔버 내 온도를 정확하게 조절 할 수 있습니다. 마지막으로, VEECO NT 2000 은 포괄적인 소프트웨어 패키지를 제공하여 전체 데이터 세트 수집 및 검토 기능을 제공합니다. 모든 측정 (measurement) 및 데이터 처리는 결과를 수집, 처리, 제어하기 위한 빠르고 강력한 환경을 제공하도록 설계된 소프트웨어에 의해 제어됩니다. 요약하면, NT 2000은 고급 웨이퍼 테스트 및 도량형 시스템입니다. 이 장치는 Wafer 의 정확한 분석 및 특성을 제공하는 한편, 다양한 고급 환경 제어 (Environmental Control) 및 데이터 수집 (Data Gathering) 기능을 제공합니다.