판매용 중고 WYKO / VEECO HD 3300 #293658703

ID: 293658703
Optical profiler.
WYKO/VEECO HD 3300 Wafer Testing and Metrology Equipment는 반도체 및 광전자 칩의 물리적 특성과 특성을 측정하도록 설계된 고급 웨이퍼 테스트 도구입니다. 광범위한 통합 도량형 (Integrated Metrology) 기능을 제공하며 웨이퍼 (Wafer) 의 특성에 대한 품질 관리 기능을 제공합니다. 이 시스템은 광학, 기계, 전자 장비의 조합을 사용하여 웨이퍼의 검사 및 측정을 수행하므로 표면 프로파일, 구조 깊이, 유전체 및 금속 층, 복합 반도체 층 (compound semiconductor layers) 등을 포함한 재료를 철저히 검사 할 수 있습니다. WYKO HD 3300 장치는 정확성을 희생하지 않고 청소소의 가혹한 환경을 견딜 수 있습니다. 그것 은 크기 가 450 "밀리미터 '에 이르는" 웨이퍼' 의 성질 을 측정 하도록 설계 되었으며, 표면 의 지형 에서부터 층 의 화학적 성분 에 이르기 까지 여러 가지 의 물리적 성질 을 탐지 할 수 있다. 이 기계는 웨이퍼 이미지를 얻기 위해 고급 광학으로 구성되며, 예를 들어, 지형, 결함 감지, 모서리 단계 높이, 필름 두께, 웨이퍼 활, 3D 지형, 입자 크기 및 모양 등의 검사 및 측정을 수행 할 수 있습니다. 또한 저항, 커패시턴스 (capacitance), 인덕턴스 (inductance) 및 유전체 특성과 같은 전기 특성을 측정 할 수 있습니다. 이 도구는 빠른 데이터 분석을 허용합니다. 이미지에서 데이터를 추출하고, 3D 이미지를 만들고, 결함을 식별하고, 분류하는 등의 고급 계산을 수행할 수 있습니다. 또한, 데이터를 다양한 형식으로 익스포트하여 추가로 분석 할 수 있습니다. 마지막으로, 자동 입자 및 결함 측정 기능과 통합되어 안정적인 분석 결과를 제공합니다. VEECO HD 3300 Wafer Testing and Metrology Asset은 반도체 및 광전자 웨이퍼의 특성을 테스트하고 측정하기위한 다재다능한 도구입니다. 또한 "웨이퍼 '가 필요 한 표준 을 충족 시키고 정확성 과 신뢰성 도 보장 해 주는 효율적 이고 강력 한 방법 을 제공 한다.
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