판매용 중고 VIEW ENGINEERING / GENERAL SCANNING View Bazic 8 #9105953

VIEW ENGINEERING/GENERAL SCANNING View Bazic 8은 반도체 제조에서 산업용으로 설계된 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이는 웨이퍼 파라미터 (wafer parameters) 의 정밀 측정에 이상적이며 다양한 테스트 표본에 대한 포괄적 인 분석을 제공합니다. 이 시스템에는 높은 배율 광학 이미지 분석기 (OIA) 가 장착되어 있습니다. 이를 통해 테스트 웨이퍼 (test wafer) 의 고대비 이미징과 복잡한 물리적 구조 및 특성을 정확하게 측정 할 수 있습니다. VIEW ENGINEERING View Bazic 8은 Operators Console, Main Mainframe Unit 및 OIA의 세 가지 주요 구성 요소로 구성됩니다. 연산자 콘솔 (Operators Console) 을 사용하면 다른 측정 매개변수와 설정을 입력할 수 있고 전체 단위를 제어할 수 있습니다. 또한 포괄적인 GUI (그래픽 사용자 인터페이스) 를 제공하여 빠르고 쉽게 데이터를 해석할 수 있습니다. Main Mainframe Unit은 카메라 센서, 프로세서 및 메모리를 통합하여 시스템에 컴퓨팅 성능을 제공합니다. 이 단위는 다양한 데이터 형식을 저장, 처리할 수 있으며, 정확한 측정을 위한 이미지 (image) 의 보정을 허용합니다. OIA는 정확한 측정을 위해 다양한 기능을 통합합니다. 여기에는 4x, 10x 및 20x 배율의 렌즈, 수직 CCD 카메라, 고급 이미지 처리 보드 및 독점 광원 도구가 포함됩니다. "렌즈 '는" 테스트 웨이퍼' 를 명확 히 볼 수 있게 해 주며 "나노미터 '척도 까지의 뛰어난 이미지 해상도 를 보장 해 준다. 또한, CCD 카메라 및 이미지 처리 보드를 사용하면 OIA 가 테스트 웨이퍼의 정확한 이미지를 캡처하고, 매개변수를 높은 정확도로 측정할 수 있습니다. 사유 광원은 입사 광원의 강도 및 방향을 측정하여 테스트 샘플의 광학 특성 (optical properties) 을 연구합니다. GENERAL SCANNING View Bazic 8은 반도체 제작에 사용하기위한 강력하고 정확도가 높은 웨이퍼 테스트 및 도량형 자산입니다. 웨이퍼의 고해상도 이미지를 캡처하고 매개변수를 정확하게 측정 할 수 있습니다. OIA는 뛰어난 이미지 해상도와 입사광을 정확하게 감지하여 정확한 분석 및 데이터 해석을 보장합니다 (영문). 운영자 콘솔 (Operators Console) 은 모델의 모든 기능에 대한 포괄적인 GUI를 제공하여 손쉬운 데이터 제어를 보장합니다. 따라서 View Bazic 8은 산업 반도체 제조에 이상적인 솔루션입니다.