판매용 중고 VEECO / WYKO NT 3300 #9171706

VEECO/WYKO NT 3300은 반도체 장치의 대규모 생산 분석을 위해 설계된 최첨단 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 시스템에는 실리콘 및 복합 반도체 웨이퍼 패턴 (wafer pattern), 구성 (configuration) 및 크기 (sizes) 를 분석, 테스트 및 특성화하는 포괄적인 툴이 포함되어 있습니다. 이 장치는 닫힌 루프, 고정밀 스캔 단계를 사용하여 빠르고, 정확하며, 반복 가능한 도량형 측정을 제공합니다. 또한, 고도로 자동화된 기능을 통해 프로덕션 및 리서치 설정 모두에서 빠르고, 효율적인 특성화와, 신속하게 웨이퍼를 분석할 수 있습니다. 여러 대의 카메라 머신이 웨이퍼의 전체 필드 이미지를 찍으며, 그 후 3D 모델에서 분석 및 재구성됩니다. 도구에서 얻은 데이터는 새로운 기술의 추가 분석 (analysis) 및 개발을 위해 전송될 수 있습니다. 에셋에는 정교한 분석 및 특성화를위한 레시피 파일 라이브러리가 포함되어 있습니다. 이러한 레시피 파일은 측정되는 재료 유형과 최적 테스트 (optimal testing) 에 필요한 특정 매개변수에 맞게 조정됩니다. 각 레시피는 특정 범위 (parameters) 에 걸쳐 다차원 데이터를 수집하여 재료의 정확하고 상세한 분석을 제공합니다. WYKO NT 3300 모델은 사용자 정의가 가능하므로 사용자가 직접 구성과 설정을 디자인할 수 있습니다. 이는 웨이퍼 테스트 및 도량형에 유연하고 생산적인 접근 방식을 보장합니다. 이 장비에는 모션 제어 기능, 환경 모니터링, 다양한 다른 액세서리가 포함됩니다. 이 시스템은 포괄적인 자동 피쳐 (automated features) 세트와 함께 수동 작업 (manual operation) 및 보다 특화된 작업에 대한 매개변수 조정 (parameter adjustment) 기능을 제공합니다. 원격 및 SCADA 통합은 산업 환경에서 보다 복잡한 작업을 위한 추가적인 유연성을 제공합니다. 또한 네트워크 및 USB 연결을 통해 고객은 소프트웨어/하드웨어 구성을 사용자 정의하여 특정 요구 사항과 목표를 효율적으로 충족할 수 있습니다 (영문). VEECO NT 3300 기계는 나노 스케일 레벨 (nanoscale level) 및 서브 미크론 (sub-micron) 레벨 정확도에 대한 측정 해상도로 매우 효율적이고 정확합니다. 이 도구는 컴팩트하며, 설치 및 유지 보수가 최소화되어 다양한 반도체 (semiconductor) 장치의 생산 분석에 이상적인 솔루션을 제공합니다. 다양한 옵션, 구성, 액세서리를 갖춘 NT 3300 자산은 강력한 종합적인 도량형 (metrology) 솔루션으로, 현대 반도체 연구 및 개발의 요구를 충족시킵니다.