판매용 중고 VEECO / WYKO NT 3300 #293823238

VEECO/WYKO NT 3300은 고급 웨이퍼 및 칩 형상 측정을 위해 설계된 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 특허받은 IDX (Interferometrical Differentiation) 레이저 간섭계를 사용하여 웨이퍼와 칩의 지형을 정확하게 측정합니다. 이 시스템은 광학 반사 지형, 3D monolithic metrology, 3D 매핑, 결함 감지 등 다양한 측정 기능과 기능을 제공합니다. 최대 스캔 속도는 80mm/sec, 최대 스캔 크기는 200mm, 최대 온웨퍼 해상도는 0.2 äm입니다. 또한 WYKO NT 3300 (WYKO NT 3300) 은 다양한 측정 기능 모드의 유연성을 제공하여 다양한 어플리케이션에 적합합니다. VEECO NT 3300 은 자동 패턴 인식 소프트웨어 (Automated Pattern Recognition Software) 와 같은 다양한 분석 툴을 갖추고 있어 수동 데이터 처리를 줄이고 효율성을 높입니다. 고급 데이터 수집/분석 기능을 통해 데이터를 신속하게 캡처, 분석, 표시할 수 있습니다. 따라서 분석 정밀도를 높이고, 처리 시간을 줄이고, 자원을 절약할 수 있습니다. 또한 NT 3300 은 프로세스 제어 및 외부 제어 시스템과의 연결을 위한 강력한 소프트웨어 패키지를 제공합니다. 이 패키지는 WAR (Wafer and Chip) 측정을 신속하게 디버그하고 검사하여 결과를 극대화할 수 있는 기능을 제공합니다. 또한, 이 장치는 잠재적으로 해로운 환경 조건이 영향을 미치기 전에 도구를 보호하는 안전 차단 기계 (Safety Shut-off Machine) 를 갖추고 있습니다. 이 자산은 모델 안정성을 높이고 장비 유지보수의 다운타임을 줄이는 데 도움이 됩니다. VEECO/WYKO NT 3300은 다양하고 강력한 시스템으로, 다양한 웨이퍼 및 칩 측정을 정확하게 수행 할 수 있습니다. 다양한 와퍼 (wafer) 와 칩 (chip) 형상과 지형을 빠르고 정확하게 측정할 수 있는 유연성을 제공합니다. WYKO NT 3300은 고급 웨이퍼 및 칩 형상 측정에 이상적인 단위입니다.