판매용 중고 VEECO V200-Si #9235992

VEECO/DEKTAK V200-Si는 두께, 평평 및 기타 미세 구조 기능을 위해 반도체 칩 층을 측정하도록 설계된 정밀 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 시스템은 고급 광학 감지 기술 (Optical Sensing Technology) 을 활용하여 웨이퍼 (Wafer) 의 표면 지형을 측정하고 분석하여 반도체 산업의 연구 및 생산에 이상적인 도구입니다. VEECO V 200SI의 광학 감지 기술은 두 가지 유형의 스캐너 (초소형 스캐닝 미러와 로우 프로파일 스캐닝 미러) 를 사용합니다. 초소형 스캐닝 미러 (scanning mirror) 는 높은 거친 사이트의 지형을 정확하게 캡처하도록 설계되었으며, 로우 프로파일 스캐닝 미러 (low-profile scanning mirror) 는 낮은 거친 사이트의 더 정밀한 측정을 제공합니다. 스캔의 데이터는 웨이퍼 서피스의 3D 지형지도 (3D topographic map) 를 만드는 데 사용되며, 이 지형도는 곡물 크기 (grain size), 결정 구조 (crystalline structure) 및 기타 미세 구조 결함 (microsstructural defects) 과 같은 서피스 피쳐를 분석하는 데 사용할 수 있습니다. DEKTAK V200 SI 장치에는 자동 데이터 처리 및 분석을위한 소프트웨어도 포함되어 있습니다. 사용자는 이 소프트웨어를 사용하여 웨이퍼 내에서 특정 미세 구조 피쳐를 측정할 수 있는 사용자 정의 (custom) 측정을 생성할 수 있습니다. 또한 전체 도량형 (metrology) 프로세스를 자동화하여 사용자가 보다 쉽고 효율적으로 수행할 수 있습니다. 또한, DEKTAK V-200 SI에는 범용 언어 인터페이스 (universal language interface) 가 프로그래밍되어 데이터를 쉽게 이해하고 다른 시스템에 적용합니다. DEKTAK V200-Si에는 측정 정밀도를 향상시킬 수있는 다양한 액세서리가 있습니다. 이러한 액세서리에는 가변 크기의 스캐너, 온도 안정화 단계 및 광섬유 케이블이 포함됩니다. 가변 크기의 스캐너 (scanner) 는 다른 크기의 웨이퍼를 측정하도록 조정할 수 있으며, 온도 안정화 (temper-stabilized) 단계는 따뜻한 환경과 차가운 환경 모두에서 정확한 판독 값을 보장합니다. 광섬유 케이블 (광섬유 케이블) 을 사용하면 웨이퍼와 워크스테이션 사이에서 고속으로 데이터를 전송할 수 있습니다. DEKTAK V 200SI는 반도체 층의 정확한 측정 및 분석을 위해 설계된 고급 웨이퍼 테스트 및 도량형 기계입니다. 고정밀도 광 스캐닝 (optical scanning) 기술과 자동화된 데이터 처리 및 분석 소프트웨어를 통해 웨이퍼 내의 미세 구조 기능을 측정, 분석하는 데 이상적인 툴이 됩니다. 또한, 액세서리를 사용하면 도구가 다양한 웨이퍼 크기와 온도를 처리 할 수 있습니다. VEECO/DEKTAK V-200 SI는 반도체 산업의 연구 및 생산을위한 강력하고 안정적인 도구입니다.