판매용 중고 VEECO / SLOAN DEKTAK V-200 Si #293609202

VEECO/SLOAN DEKTAK V-200 Si는 다양한 반도체 구조의 반복 가능하고 정확한 측정을 제공하는 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 서피스 지형, 임계 치수, 게이트 높이, 저항도 및 측벽 각도 결정과 같은 여러 측정 기능을 제공합니다. V-200 Si 는 비접촉 (non-contact) 광 프로파일로미터 (optical profilometer) 를 사용하여 웨이퍼의 표면 높이를 측정하여 표면 지형 데이터를 정확하고 반복적으로 얻을 수 있습니다. 또한 3D 점 분석, 라인 스캔, 영역 스캔, 커서링, 프로파일 검증 검색 등 다양한 분석 모드를 제공합니다. 이 시스템을 통해 사용자는 높이 (height), 너비 (width) 등 다양한 프로파일 매개변수를 볼 수 있으며, 프로파일에 대한 자세한 정보 (line-by-line data) 도 볼 수 있습니다. 임계 치수 (CD) 를 정확하게 측정하려면 장치의 On-Axis CD/Sidewall Angle Measurement 기능이 사용됩니다. 이것은 연관된 측면 벽 각도 측정과 함께 CD를 한 단계로 측정합니다. 다른 시스템과 비교하여, V-200 Si는 각도를 0.1 도까지 측정하여 0.1 나노 미터까지 기능의 CD 측정을 얻을 수 있습니다. V-200 Si는 나노 미터 및 마이크로 미터 범위의 게이트 높이를 측정 할 수도 있습니다. 횡단면 마이크로 분석 (cross-sectional micro analysis) 을 사용하면 전체 프로파일을 프로파일 모드와 횡단면 모드 모두에서 분석할 수 있습니다. 시스템 저항성을 측정하기 위해 사용자는 수동 (manual) 및 자동 (automated), 조이스틱 (joystick), 스캐닝 (scanning) 및 광학 모드 (optical mode) 를 포함한 다양한 스캔 가능한 프로브 팁 중에서 선택합니다. V-200 Si 도구는 고정밀도 (High Precision Stage) 및 효과적인 표면 검사 기능을 활용하여 안정적이고 정확한 데이터를 제공하는 것을 목표로합니다. 또한, 자산에는 사용자 친화적 인 인터페이스가 있어 운영자 보고서를 사용자 정의하고 저장할 수 있습니다. 향상된 성능 및 작동을 위해, 모델은 Windows 10 호환이며, 다양한 운영 체제와 호환됩니다. 이렇게 하면 "컴퓨터 '로의" 데이터' 전송 이 촉진 되고 장비 의 전반적 인 효율성 이 향상 된다.