판매용 중고 VEECO / SLOAN DEKTAK IIA #82918

VEECO/SLOAN DEKTAK IIA는 물리적/전자적 결함을위한 웨이퍼를 검사하고 웨이퍼 매핑 및 결함 수를 수행하도록 설계된 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 시스템에는 레이저 스캔 헤드, 컴퓨터 제어 현미경 및 터치 스크린 데이터 입력 장치 (touch-screen data entry device) 가 포함됩니다. "레이저 '주사" 헤드' 는 "웨이퍼 '의 표면 을 신속 히 검사 하고 결함 이나 고르지 않은 부위 를 탐지 하는 데 사용 된다. 컴퓨터 제어 현미경은 스캔된 영역을 추가로 검사하고 다른 결함을 식별하는 데 사용됩니다. 터치 스크린 데이터 입력 장치는 쉽고 빠른 데이터 입력을 지원합니다. VEECO DEKTAK IIA 장치에는 현미경 및 레이저 스캐닝 헤드에서 얻은 데이터를 분석하는 데 도움이되는 많은 소프트웨어 프로그램 (Software Program) 도 포함되어 있습니다. 이러한 프로그램을 사용하면 스캔된 데이터를 미리 정해진 매개변수 (parameters) 와 비교하고, 추가 분석을 위한 웨이퍼 (wafer) 의 그래픽 디스플레이를 비교할 수 있습니다. 소프트웨어는 또한 결함 수 (defect counts), 결함 밀도 (defect densities), 데이터 매핑 (mapping data) 과 같은 웨이퍼의 품질에 관한 다양한 주요 기준을 출력할 수 있습니다. SLOAN DEKTAK IIA 기계는 다양한 종류의 웨이퍼를 빠르고 정확하게 테스트하도록 특별히 설계되었습니다. 단일 웨이퍼 (wafer) 를 분석하는 데 이 도구의 도움을 받아 15 분 정도 걸릴 수 있습니다. 이는 생산 과정에서 양질의 제어를 받고 웨이퍼를 검사하는 데 이상적입니다. DEKTAK IIA 자산을 사용하는 편리성과 효율성은 웨이퍼 테스트 (wafer testing) 와 도량형 (metrology) 을 위한 훌륭한 선택입니다. "웨이퍼 '를 빠르고 정확 하게 검사 할 수 있으며, 품질 관리 를 위한 믿을 만한 장치 를 제공 한다. 그 결과, 이 제품은 엄격한 업계 표준을 준수하는 고품질 웨이퍼 (wafer) 를 생산하는 핵심 도구입니다.