판매용 중고 VEECO / SLOAN DEKTAK IIA #114323

VEECO/SLOAN DEKTAK IIA 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비는 다양한 산업 및 연구 응용 프로그램에 사용되는 웨이퍼 상의 박막 및 레이어를 정확하게 측정 할 수있는 고급 다목적 측정 도구입니다. 이 시스템은 Precision Engineering, Optical Alignment 및 Motion Control에서 가장 현재의 혁신을 결합합니다. VEECO DEKTAK IIA는 1 개 미만의 옹스트롬 (angstrom) 에서 2000 개의 옹스트롬 (angstrom) 까지 다양한 필름 두께를 측정할 수 있으며, 높은 정도와 반복 가능성이 있습니다. 이 장치는 안전하고 인체 공학적으로 설계된 인체 공학적 워크스테이션으로 제작되었으며, 정밀 조이스틱 (joystick) 과 대용량 고해상도 컬러 디스플레이가 특징입니다. 모니터링 시스템 (Monitoring Machine) 은 최고의 정확성과 신뢰성을 보장하며, 데이터 추적 툴은 측정이 일관되게 취해지고 문서화되도록 합니다. SLOAN DEKTAK IIA에는 고급 자동 웨이퍼 처리 에셋과 다른 기기와의 통합을위한 멀티 플렉서가 포함되어 있습니다. DEKTAK IIA는 고급 3 축 나노 미터 레벨 포지셔너를 사용하여 레이어 두께를 정확하고 정확하게 측정합니다. 모델의 광 정렬 장비 (Optical Alignment Equipment) 는 샘플의 정확한 위치를 보장하는 반면, 다중 스캐닝 모드는 고지원 또는 복합 토폴로지 영역에서도 박막 (Thin film) 및 레이어 (Layer) 를 측정할 수 있습니다. VEECO/SLOAN DEKTAK IIA는 또한 효율적인 단방향 스캔을 제공하는 자동 라인 스캔 모드를 제공합니다. 이렇게 하면 높은 "라인 '주사 속도 로" 박막' 층 을 기존 주사 보다 더 빨리 측정 할 수 있게 된다. 또한, VEECO DEKTAK IIA에는 스테이지와 여러 계측 도구 간의 빠르고 안정적인 샘플 교환을 위해 자동 웨이퍼 교환 시스템이 장착되어 있습니다. SLOAN DEKTAK IIA는 도량형 결과에 대한 설정 자동 분석 및 변경을 위한 상세한 데이터 분석 소프트웨어를 제공합니다. 이 소프트웨어에는 데이터를 즉시 해석할 수 있는 고급 GUI (Graphical User Interface) 와 프레젠테이션 및 분석 결과에 대한 종합적인 그래픽 보고서 (Graphical Report) 가 포함되어 있습니다. 전반적으로 DEKTAK IIA 웨이퍼 테스트 (wafer testing) 및 도량형 장치 (metrology unit) 는 다양한 산업 및 연구 응용 분야에 적합한 고급적이고 신뢰할 수있는 도구입니다. 다중 스캐닝 모드, 고급 정밀도, 정확도, 효율적인 데이터 분석 소프트웨어 덕분에 VEECO/SLOAN DEKTAK IIA는 박막 측정 및 분석에서 최고의 정밀도를 보장하는 데 필수적인 도구입니다.