판매용 중고 VEECO / SLOAN DEKTAK I #9018952

VEECO/SLOAN DEKTAK I은 초정밀 표면 지형 프로파일링 및 분석을 위해 설계된 고급 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 시스템은 직경, 평면도/수준, 표면 거칠기, 높이, 깊이, 임계 치수 등 반도체 웨이퍼의 다양한 기하학적 특성을 측정 할 수 있습니다. VEECO DEKTAK I (VEECO DEKTAK I) 는 샘플 지형을 따라 프로브를 이동하기 위해 모터 제어 x-y 테이블과 정확하게 정렬 된 정전 용량 프로브를 사용합니다. 이를 통해 단위는 높은 정밀도로 웨이퍼 서피스를 정확하게 측정하고 스캔 할 수 있습니다. 컴퓨터에는 그래픽 사용자 인터페이스 (Graphical User Interface) 가 제공되며, 이를 통해 사용자는 대화식으로 공구의 작업을 모니터링하고 제어할 수 있습니다. 또한 스캐닝 프로세스 중 정확성을 보장하기 위해 피드백을 제공하는 광학 인코더 (Optical Encoder) 가 있습니다. 또한, 어댑터를 사용하면 다양한 외부 기기 및 주변 장치와 에셋을 인터페이스 (interface) 할 수 있습니다. 이 모델은 또한 다양한 기본 수정 및 자동 위치 지정 (automated positioning) 과 최적화된 스캔 경로 (scan path) 를 통해 웨이퍼 서피스에서 최대 해상도를 캡처합니다. SLOAN DEKTAK I (SLOAN DEKTAK I) 는 또한 사용자가 기록된 데이터를 추가로 분석 할 수 있도록 고급 그래픽 분석 도구를 제공합니다. 이러한 도구를 사용하여 웨이퍼 서피스의 세부 서피스 지형 맵, 3D 서피스 뷰, 기타 형상 프로파일을 생성할 수 있습니다. 전반적으로, DEKTAK I은 반도체 웨이퍼의 정확한 측정 및 분석을 제공하기 위해 설계된 고급 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 시스템은 샘플 서피스 (Surface Surface) 의 다양한 기하학적 피쳐를 캡처하고 분석할 수 있으며, 고급 그래픽 분석 도구 (Advanced Graphical Analysis Tools) 를 통해 데이터를 보다 철저하게 분석할 수 있습니다. 또한, 이 장치는 작업을 단순화하고 웨이퍼 서피스의 정확한 프로브 및 스캐닝을 보장하도록 설계되었습니다.