판매용 중고 VEECO / SLOAN DEKTAK 8000 #175201

VEECO/SLOAN DEKTAK 8000은 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비로, 웨이퍼 표면 지형의 고성능, 높은 정확도를 측정합니다. 다목적 설계를 통해 다양한 웨이퍼 유형 (wafer type) 과 크기에서 쉽게 설치 및 작동할 수 있습니다. 이 시스템에는 샘플의 표면 프로파일을 정확하게 측정하는 피에조 (piezo) 변환기가 포함되어 있습니다. 스캐닝 속도는 원하는 스캔 해상도 (scan resolution) 에 따라 조정할 수 있으며, 다양한 유형의 샘플에 대해 스타일러스 (stylus) 팁을 대체할 수 있습니다. VEECO DEKTAK 8000은 웨이퍼 평평, 두께 변화, 스텝 높이, 표면 스크래치 및 오염 수준, 표면 특성 및 평면을 측정 할 수 있습니다. 또한 비전 유닛 (Vision Unit) 이 장착되어 지형적 기능을 측정하고 이미지 데이터를 처리할 수 있는 포괄적인 패키지를 제공합니다. 이 기계는 또한 사용자에게 3D 분석 및 통계 측정 기능을 제공하여 프로세스 제어 시스템 (process control system) 에 필요한 포괄적인 데이터 패키지를 제공합니다. 이 도구는 샘플 서피스를 측정하기 위해 모듈식 스타일러스 헤드가 부착된 정밀 X-Y 단계로 구성됩니다. 스타일러스 헤드 (stylus head) 에는 신호 프로세서에 연결된 측정을위한 piezo 트랜스듀서가 포함되어 있습니다. 신호 프로세서 (signal processor) 는 트랜스듀서의 원시 데이터를 정합성 보장 신호 (consistent signal) 로 변환하여 추가 분석에 사용됩니다. 신호 프로세서 (signal processor) 에는 여러 개의 판독값을 신속하게 받아들이는 고속 데이터 획득 자산도 포함되어 있습니다. 비전 (vision) 모델에는 스타일러스 헤드 (stylus head) 에 장착하고 샘플 표면을 스캔할 때 사진을 찍도록 프로그래밍되는 디지털 카메라가 포함되어 있습니다. 카메라는 이미지 처리 소프트웨어 (Image Processing Software) 에 연결되어, 서피스 피쳐와 기타 매개변수를 정량화하기 위해 이미지 데이터를 자동으로 분석할 수 있습니다. SLOAN DEKTAK 8000 (SLOAN DEKTAK 8000) 은 다양한 유형의 측정에서 정확성과 반복성을 제공하도록 설계된 고급 웨이퍼 테스트 장비입니다. 광범위한 애플리케이션 (application) 을 위한 다용도 플랫폼 (platform) 을 제공하며 연구 개발 팀의 요구에 가장 적합합니다. 이 시스템의 고급 분석 도구 (analytical tools) 와 자동화된 시스템 (automated system) 을 사용하면 데이터를 신속하게 취득, 분석, 시각화하여 데이터 기반 분석을 진행할 수 있습니다.