판매용 중고 VEECO / SLOAN DEKTAK 8 #9006095

VEECO/SLOAN DEKTAK 8은 R&D 및 프로덕션 환경 모두를 위해 설계된 정교한 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 강력한 X-Y 스캔 엔진과 정교한 데이터 처리 및 분석 기능을 제공하는 사용이 간편한 소프트웨어를 갖추고 있습니다. 시스템에서 프로파일, 서피스, 스텝 높이, 평면도 및 200 mm, 150 mm, 75 mm 및 50 mm 웨이퍼의 임계 치수를 최대 30 µm의 두께로 정확하게 측정 할 수 있습니다. 고속 Z축 드라이브는 스캐너를 제어하며 최대 0.4 µm의 해상도를 제공합니다. 스캐너에는 테스트 된 웨이퍼의 표면 변형을 보상하기위한 내장 센서가 있습니다. VEECO DEKTAK 8의 소프트웨어는 오버레이 측정, 임계 치수 (CD), 반사도 및 스텝 높이를 포함한 다양한 자동 웨이퍼 분석 기능을 제공합니다. 또한 자동 컨투어 정렬 (automated contour alignment) 을 통해 웨이퍼 매핑 프로세스를 최적화하여 정확도를 높입니다. 또한 사용 가능한 API 를 통해 데이터를 직접 가져오거나 내보낼 수 있도록 지원하여 다른 시스템 (예: 프로세스 시뮬레이션, 장비 제어 시스템) 과의 통합을 용이하게 합니다. 이 장치는 사용자 정의가 가능하고 사용이 간편한 GUI (그래픽 사용자 인터페이스) 와 다양한 고급 하드웨어/소프트웨어 기능을 갖추고 있습니다. 예를 들어, 머신은 단순화된 작동을 위해 대형 터치 스크린 디스플레이 (large touch screen display) 및 패널 유형 (panel-type) 컨트롤과 더 정확한 평가를 위해 웨이퍼의 횡단면 뷰를 활성화하는 고급 고속 비디오 서브시스템을 사용합니다. SLOAN DEKTAK 8은 높은 생산성 테스트 모드, 빠른 인쇄 기능 등 효율성 향상을 위해 설계된 추가 기능을 제공합니다. 또한 추적 가능한 측정을 지원하고, 안정적인 데이터 추적을 위해 모든 측정에 대한 기록을 유지합니다. DEKTAK 8 웨이퍼 테스트 및 도량형 도구는 정확한 웨이퍼 평가 및 분석을위한 고급 도구입니다. 정확한 측정, 편리한 사용자 인터페이스 (user interface), 탁월한 테스트/추적 기능을 갖춘 이 솔루션은 Wafer 테스트 및 도량형을 개선하기 위한 강력한 솔루션을 제공합니다.