판매용 중고 VEECO / SLOAN DEKTAK 6M #9034870

ID: 9034870
웨이퍼 크기: 6"
빈티지: 2006
Surface profiler, up to 6" Includes: Step height repeatability Low-inertia Low-noise sensor (LIS 3) High horizontal and vertical resolution Uses a 12.5 micron diamond stylus (2) Stylus tips Reference thickness gauge Vibration table Programmable stylus (down to 1 mg) Z-Height capability (up to 1 mm) Up to 30,000 data points per scan Windows software interface Specifications: Performance: Sample stage diameter: 150 mm (6 in.) Scan length range: 50 μm to 30 mm X-Y stage translation: 20 mm x 80 mm Theta sample positioning: 360° Vertical data resolution: 1Å max. (@ 65 KÅ range) Vertical range: 262 μm max. (1 mm optional) Step height repeatability: 10 Å, 1σ Data points per scan: 30,000 max. Sample viewing: 2.6 mm FOV (2.6 mm to 0.5 mm FOV zoom option) Stylus tip radius: 12.5 μm (std.) Stylus force range: 1 mg to 15 mg (programmable adjustment) Stylus sensor: LIS 3 (low-inertia sensor) Stylus replacement: Quick-Change tool (std.) System configuration: Microprocessor: Intel Pentium III (monitor optional) User interface: Microsoft Windows 98 Interface method: mouse/keyboard Network card: enables exporting/printing data via local network Power requirements: 115/220 VAC, 50/60 Hz, 5 A Optional features: Printer: color inkjet printer Stress measurement: calculates tensile/compressive thin-film stress on wafers Optional Styli: <1 μm to 25 μm radius tips (high-aspect-ratio tips & super-sharp 50 nm radius tips also available) Calibration standards: 200 Å to 10 μm step height standards (NIST traceable) Vibration isolation table: isolates scan head from external noise Zoom optics: 5 mm to 1 mm FOV Ceramic vacuum chuck: for small samples Extended range: increases vertical range to 1 mm Step detection software: for calculating multiple step measurements Monitor: 15-inch SVGA monitor or 15-inch flat panel w/stand Environmental enclosure: Plexiglas shield protects scan head from dust Standard analytical software: Roughness parameters: Ra, Rq, Rp, Rv, Rt, Rz, max. Ra, max. dev., skew Waviness parameters: Wa, Wq, WP, WV, Wt, max. dev. Step height parameters: avg. step ht., avg. ht., max. peak, max. valley, max. ht., peak to valley, high spot count, peak count Geometry parameters: area, slope, volume, radius, perimeter, bearing ratio Programmable cutoff filter: conforms to ANSI B46.1 2006 vintage.
VEECO/SLOAN DEKTAK 6M은 반도체 제조 공정 및 기타 응용 분야에 사용되는 웨이퍼의 두께 및 높이를 평가하기 위해 설계된 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. VEECO DEKTAK 6M은 0.5m의 반복 가능성으로 초당 최대 1,400mm를 스캔 할 수있는 자동 비 접촉 스핀 모터 측정 시스템입니다. 매우 민감한 커패시턴스 센서 (capacitance sensor) 가 장착되어 있어 웨이퍼 표면에서 가장 작은 기능을 측정 할 수 있습니다. 이 장치는 단계 (step) 를 사용하여 일정한 속도로 반복하여 사용자가 복잡한 피쳐를 분석하기 위해 웨이퍼 (wafer) 를 빠르게 스캔할 수 있습니다. SLOAN DEKTAK 6M에는 또한 자동 튜닝 머신이 장착되어 있어 안정적인 데이터 수집 및 처리를 보장합니다. 이 도구를 사용하여 웨이퍼의 높이와 두께를 동시에 측정할 수 있습니다. 데크 탁 (DEKTAK) 6M (DEKTAK 6M) 은 2 팔 잠금 메커니즘을 사용하여 전체 측정 프로세스 동안 웨이퍼가 스테이지에 유지되도록 설계하며, 자산은 고속 (high speed) 으로 거의 모든 유형의 재료를 처리 할 수 있습니다. 또한 VEECO/SLOAN DEKTAK 6M은 최대 8 개의 사용자 정의 프로그램을 지원하며, 이 프로그램은 측정 절차 및 매개 변수 (예: 속도, 평균 설정 및 설정 시간) 를 사용자 정의하는 데 사용할 수 있습니다. VEECO DEKTAK 6M (VEECO DEKTAK 6M) 은 또한 강력한 사용자 인터페이스를 갖추고 있으며, 이를 통해 연구자들은 개별 요구에 맞게 모델을 사용자 정의할 수 있습니다. 인터페이스에는 자동 보정, 그래프 출력 및 측정 된 데이터의 1-D 또는 2-D 플로팅이 포함됩니다. 여기에는 여러 개의 데이터 분석 프로그램 (예: 여러 검색 비교 기능, 통계 프로세스 제어 소프트웨어 (statistical process control software) 로 데이터 분석 기능) 도 포함됩니다. 전반적으로, SLOAN DEKTAK 6M은 미세한 측정이 필요한 모든 연구 또는 생산 요구에 이상적인 우아하고 신뢰할 수있는 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 자동 (automated) 및 비접촉 (non-contact) 시스템은 연산자 개입을 최소화하면서 정확하고 반복 가능하며 신뢰할 수 있는 측정을 수행합니다.
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