판매용 중고 VEECO / SLOAN DEKTAK 3030 #293590373

VEECO/SLOAN DEKTAK 3030 (VEECO/SLOAN DEKTAK 3030) 은 다양한 기판의 프로파일과 두께를 완벽하고 정확하게 측정하도록 설계된 강력하고 안정적인 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 구체적으로이 시스템은 정밀 금속 (precision metal) 및 반도체 (semiconductor) 애플리케이션을 위해 설계되었으며, MEMS 응용 프로그램에 사용되는 것과 같은 매우 얇은 금속 필름을 정확하게 측정 할 수 있습니다. VEECO DEKTAK 3030은 독특한 스캐닝 프로브 현미경 (SPM) 기술을 사용하여 나노 미터 해상도로 환경 스캔 측정을 허용합니다. 이 단위는 매우 광범위한 선형 및 2D 치수를 측정 할 수 있습니다. 측정 정확도는 넓은 영역에 걸쳐 유지되며 SLOAN DEKTAK 3030 (SLOAN DEKTAK 3030) 은 표본 표면에 걸쳐 안정성을 유지할 수 있습니다. 하드웨어/소프트웨어 시스템은 견고하고 안정적이며, 모든 샘플에서 일관성 있는 반복 (repeatable) 결과를 유지할 수 있습니다. DEKTAK 3030의 다른 표준 기능으로는 대형 직접 드라이브 샘플 스테이지, 고정밀 프로브, 자동 초점 기계, 고급 모터 포지셔닝 도구, 종합적인 데이터 획득 및 분석 스위트가 있습니다. 큰 표본 단계 (large sample stage) 를 사용하면 표본의 표면을 빠르고 정확하게 탐색할 수 있으며 복잡한 곡선 전체에서도 일관성 있는 반복성이 유지됩니다. 정밀도가 높은 프로브는 높은 정밀도로 측정되며, 큰 피쳐에서 나노미터 스케일 (nanometer-scale) 피쳐까지 모든 기능을 측정할 수 있습니다. 동시에, 자동 초점 에셋 (autofocus asset) 은 표본의 표면이 달라도 정밀도를 유지하기 위해 표면 지형을 추적 할 수 있습니다. 고급 모터 포지셔닝 (advanced motor positioning) 모델을 사용하면 장비 및 표본을 빠르고 정확하게 재배치할 수 있습니다. 마지막으로, 종합 분석 제품군은 기록 된 측정에 대한 포괄적 인 분석을 제공합니다. 전반적으로 VEECO/SLOAN DEKTAK 3030은 금속 또는 반도체 기판의 정확하고 측정이 필요한 응용 분야에 적합한 선택입니다. 이 시스템의 고급 하드웨어/소프트웨어 제품군을 사용하면 매우 얇은 필름과 나노 스케일 (nano-scale) 기능을 정확하게 측정할 수 있습니다. 동시에, 대형 Direct Drive 샘플 스테이지, 견고한 모터 포지셔닝 장치, 자동 초점 머신 (Autofocus Machine) 은 빠르고 번거롭지 않은 측정을 보장합니다. 전체 도구는 VEECO DEKTAK 3030을 필요한 웨이퍼 테스트 및 도량형 응용 프로그램에 이상적인 선택으로 만듭니다.