판매용 중고 VEECO / SLOAN DEKTAK 3 17380C #176168

VEECO/SLOAN DEKTAK 3 17380C는 최대 6 인치 직경의 웨이퍼 (wafer) 의 표면 테스트에 사용하기 위해 평평한 수직 자동 프로파일로미터를 갖춘 웨이퍼 테스트 및 계측 장비입니다. 이 시스템에는 VEECO 테크놀로지스 (VEECO Technologies) 가 자체 개발한 독점 소프트웨어 패키지가 장착되어 있어 신뢰성과 정확도가 뛰어난 정확한 표면 도량형 측정이 가능합니다. VEECO DEKTAK 3 17380C는 정전용 레벨 센싱을 위해 설계되었으며, 이는 표면 측정의 최고 정확도를 허용합니다. 저주파, 플랫 수직 프로파일로미터 (Low-Frequency, Flat Vertical Profilometer) 는 뛰어난 설계로 만들어져 가장 복잡한 구조의 민감한 표면 도량형 측정에 이상적입니다. 이 장치는 최대 300 나노미터 (300 nanometer) 의 프로파일 높이를 측정할 수 있으며, 매우 작은 결함으로 인한 프로파일 높이와 모양의 작은 변형을 감지합니다. 통합 소프트웨어 패키지에는 기본 (Base) 작업 모드가 두 개 있으며, 이를 통해 수동 (Manual) 또는 자동 (Automated) 모드를 선택할 수 있습니다. 자동 모드 (Automated Mode) 는 측정을 자동화하여 원하는 결과를 얻기 위해 원하는 프로파일 기준을 간단히 입력할 수 있습니다. 수동 모드 (Manual Mode) 를 사용하면 측정 매개변수를 실시간으로 직접 변경하여 결과를 정확하게 조정할 수 있습니다. 또한, 컴퓨터에는 도구의 설정을 빠르게 조정하기 위해 사용자가 선택할 수 있는 다양한 사전 설정 (preset) 매개변수가 포함되어 있습니다. SLOAN DEKTAK 3 17380C는 또한 빠른 데이터 전송을 허용하는 고성능 데이터 I/O 포트를 갖추고 있습니다. 또한, 자산은 Windows 및 Linux 등 다양한 외부 플랫폼과 호환됩니다. 즉, 사용자는 모델에서 획득한 데이터를 손쉽게 액세스할 수 있고, 데이터를 다른 사용자와 쉽게 공유할 수 있습니다. 결론적으로 DEKTAK 3 17380C는 훌륭한 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 시스템은 광범위한 기본 (basic) 구조와 복잡한 구조를 측정하는 데 적합하며, 높은 수준의 정확성, 신뢰성, 유연성을 제공하여 모든 웨이퍼 테스트 (wafer testing) 및 도량형 (metrology) 응용 프로그램에 이상적인 선택입니다.