판매용 중고 VEECO / SLOAN DEKTAK 150 #9358816

VEECO/SLOAN DEKTAK 150은 업계 최고의 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비로, 웨이퍼 및 기타 관련 부품의 신뢰성 있는 자동 측정을 제공하도록 설계되었습니다. 이 시스템은 반도체 테스트, 공정 제어 (process control) 와 같은 고정밀 응용 프로그램에 적합합니다. VEECO DEKTAK 150은 플랫폼 기반 유닛으로, 와퍼 조작을위한 로봇 암 및 스캐닝 헤드, 정확한 측정을위한 도량형 레이저 프로브, 특수 소프트웨어가있는 통합 컴퓨터 머신 (Computer Machine) 을 포함합니다. 이 도구의 고급 도량형 레이저 프로브는 표면 지형 (surface topography), 패턴 인식 (pattern recognition), 모양 및 통합 칩의 특징을 포함한 다양한 매개변수를 측정 할 수 있습니다. 자산의 로봇 암 (robotic arm) 은 테스트 중에 웨이퍼를 고정하고 프로그래밍 된 동작 및 측정 순서를 통해 작동합니다. 방사상으로 2 "수직 및 6" 의 운동 범위를 가지며, 직경이 최대 200mm 인 웨이퍼를 정확하게 조작 할 수 있습니다. 비전 기반 웨이퍼 찾기 (Wafer Locating) 모델을 사용하면 레이저 프로브를 시작하기 전에 빠르게 정확한 웨이퍼 위치를 지정할 수 있습니다. SLOAN DEKTAK 150은 최대 스캐닝 범위 (200mm) 를 위해 2 Angstrom 해상도로 작동하는 고정밀 스캐닝 헤드를 사용합니다. 이 장비는 또한 고급 표면 도량형을 위해 스펙트럼 파장이 다른 2 개의 레이저 프로브 (레이저 프로브) 를 포함합니다. 이 레이저 프로브 시스템은 1 옹스트롬 (Angstrom) 해상도의 데이터를 획득하여 다양한 제조업체와 다른 유형의 웨이퍼를 수용합니다. DEKTAK 150은 통합 패턴 인식 및 표면 분석 장치를 제공합니다. "칩 '의 모양 과 특징 의 윤곽선 과 복잡성 을 배울 수 있다. 이 기계는 설계 승인 드로잉 (design approved drawing) 에서 모든 웨이퍼의 서피스 지형을 감지하고 분석할 수도 있습니다. VEECO/SLOAN DEKTAK 150은 공구를 작동 및 관리할 수있는 제어 컴퓨터와 통합됩니다. 이 고급 컴퓨터 자산은 AI 기반 소프트웨어 알고리즘 (AI 기반 소프트웨어 알고리즘) 을 통해 모델을 사용자 정의하고, 대형 디스플레이 모니터에서 볼 수 있는 데이터 분석 (data analysis) 을 사용할 수 있습니다. 결론적으로, VEECO DEKTAK 150은 높은 정확도 측정 및 표면 분석을 위해 설계된 강력하고 효율적인 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 고급 도량형 레이저 프로브, 로봇 암, 비전 기반 웨이퍼 찾기 시스템, 통합 패턴 인식 및 표면 분석 장치 (surface analysis unit) 를 통해 정확한 제어 및 데이터 획득이 가능합니다. 기계의 제어 컴퓨터 (control computer) 및 소프트웨어 알고리즘 (software algorithm) 은 공구에 대한 쉬운 작동 및 데이터 분석을 제공합니다.