판매용 중고 VEECO / SLOAN DEKTAK 150 #9358452

VEECO/SLOAN DEKTAK 150은 웨이퍼 테스트 및 도량형 시스템입니다. 반도체 웨이퍼 (wafer) 를 포함한 다양한 박막 기판의 평평함과 두께를 측정하도록 설계되었습니다. 이것은 매우 정확하고, 정확하며, 반복 가능한 웨이퍼 테스트 및 도량형 시스템으로, 반도체 산업에 이상적입니다. VEECO DEKTAK 150은 스캐닝 터널링 현미경 (STM) 센서를 특징으로하며, 이는 웨이퍼에서 나노 스케일 표면 특징을 측정하기 위해 매우 얇은 캔틸레버드 빔을 사용합니다. STM 센서는 고감도 나노 스케일 캔틸레버, 매우 낮은 소음 증폭기 및 디지털 신호 처리로 구성됩니다. 이 고급 컴포넌트 배열 (Advanced Array of Component) 은 매우 높은 감도와 정확도를 제공하여 일관된 결과와 함께 매우 정확한 측정을 가능하게 합니다. SLOAN DEKTAK 150은 웨이퍼의 평평함과 두께를 모두 측정 할 수 있습니다. 평탄도 측정 모드 (flatness measuring mode) 는 웨이퍼 (wafer) 의 표면 모양 분석을 가능하게 하며, 테스트 중인 웨이퍼 (wafer) 의 평탄도에서 미묘한 변형을 감지 할 수 있습니다. 두께 측정 모드 (thickness measuring mode) 를 사용하면 웨이퍼 두께를 정확하게 측정 할 수 있으며, 최대 10mm 두께의 수백 나노미터 (nanometer) 에서 광범위한 웨이퍼 두께를 수용하도록 구성할 수 있습니다. DEKTAK 150은 또한 광범위한 데이터 측정 및 분석 기능을 제공합니다. 데이터 수집 (Data Collection) 및 글로벌 분석 (Global Analysis) 기능을 비롯하여 다양한 프로파일 유형과 디스플레이 형식을 사용할 수 있습니다. 또한 편리한 GUI 를 통해 작업을 간편하게 수행할 수 있습니다. VEECO/SLOAN DEKTAK 150은 다양한 사용자 친화적 기능을 제공하여 웨이퍼 테스트 및 도량형에 이상적입니다. 또한 고급 STM 센서 (STM) 로 인해 매우 정확한 결과를 얻을 수 있으며, 데이터 측정 및 분석 기능이 다양하며, 편리한 사용자 인터페이스 (user interface) 를 통해 작업을 쉽게 수행할 수 있습니다. 이러한 기능을 통해 VEECO DEKTAK 150은 사용 가능한 최고의 웨이퍼 테스트 및 도량형 시스템 중 하나입니다.