판매용 중고 VEECO / DIGITAL INSTRUMENTS Dimension VX 210 #9043313

VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension VX 210 웨이퍼 테스트 및 LEM (Light-Enhanced Measurement) TM 기술을 사용한 도량형 시스템은 AFM으로 고급 프로세스 및 도량형 애플리케이션을 위한 탁월한 처리량과 성능을 제공합니다. VEECO Dimension VX 210은 낮은 볼륨 (< 100) 에서 중간 볼륨 (< 3K) 생산에 대한 평면 및 수직 웨이퍼 레벨 다이빙 및 도량형 요구 사항을 모두 처리하도록 설계되었습니다. DIGITAL INSTRUMENTS DIMENSION VX210은 주변 광원 상태에서도 뛰어난 이미지 선명도를 제공하는 고급 디지털 기능을 갖추고 있습니다. 특허받은 LEM (light-enhanced imaging) TM은 부피가 큰 광섬유와 레이저를 사용하지 않고도 고품질 이미징을 구현합니다. DIMENSION VX210은 스캔 속도가 빠르며, 이미지 선명도를 위해 진동 격리를 사용합니다. VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS DIMENSION VX210은 반도체 다이 (die) 의 고급 특성, 스택 다이 측정, 레이어 두께 측정, 로컬 하이브리드 화 기법의 이미징, 기타 다양한 웨이퍼 도량형 요구 사항 등 다양한 고성능 측정 응용 프로그램에 적합합니다. DIGITAL INSTRUMENTS Dimension VX 210은 결정질 및 비정질 실리콘, 화합물 반도체, 층재, 실리콘, 쿼츠 및 기타 필름 및 기판을 포함한 다양한 샘플 유형을 지원합니다. MEMS, HBLED, 레이저 리프트 오프, TSV (through-silicon-via) 및 모바일 3D 스태킹 응용 프로그램과 같은 프로세스에서 선호되는 선택입니다. Dimension VX 210은 또한 강력한 서보 모터 제어 줌 (motor-controlled zoom) 및 데칸 데크 (descan deck) 를 갖추고 있어 웨이퍼를 빠르고 정확하게 삽입 및 제거할 수 있습니다. VX210의 로우 프로파일 (Low Profile) 과 견고한 설계는 엄격한 운영 환경에서 안정적인 운영을 보장합니다. VEECO DIMENSION VX210은 고속 스캔, 뛰어난 이미지 선명도, 진동 격리, 대용량 데크 덕분에 WAFER (Wafer Production Throughput) 및 성능 면에서 최고의 성능을 제공합니다. VEECO/DIGITAL INSTRUMENTS Dimension VX 210을 사용하면 연구 시설과 OEM을 통해 생산성을 높이고 가장 까다로운 어플리케이션에 대해 정확하고 반복 가능한 결과를 얻을 수 있습니다.