판매용 중고 VEECO / BRUKER / SLOAN DEKTAK 8 #293754273

ID: 293754273
Profilometer (2) Chambers Roughness Vertical resolution: 6.55 µm 3D Topography measurement Stress and defects samples: 200 mm Step height repeatability: 7.5 A Step Sigma maximum sample thickness: 25.4 mm No PC.
VEECO, SLOAN 및 BRUKER는 재료 분석 및 도량형 분야에서 첨단 기술 솔루션으로 유명한 유명한 회사입니다. VEECO/BRUKER/SLOAN DEKTAK 8은 이 3 대 업계 리더의 전문 기술과 기술을 결합하여 반도체 웨이퍼 및 기타 박막 재료의 표면 프로파일을 측정하기위한 포괄적이고 정확한 솔루션을 제공하는 정교한 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. VEECO DEKTAK 8 시스템의 주요 구성 요소 중 하나는 독점 스타일러스 프로파일러 기술로, 표면 거칠기, 스텝 높이 및 필름 두께를 하부 나노 미터 해상도로 매우 정확하게 측정합니다. 고급 스타일러스 프로파일러 (advanced stylus profiler) 는 샘플의 표면을 스캔하는 날카로운 다이아몬드 팁 스타일러스로 구성되며, 높이와 지형에서 가장 작은 변형을 감지합니다. SLOAN DEKTAK 8 장치에는 다양한 측정 모드 (multiple measurement mode) 와 분석 (analysis) 기능이 장착되어 있어 다양한 샘플 유형과 측정 요구 사항을 충족할 수 있습니다. 이러한 다양성을 통해 사용자는 스텝 높이 측정, 필름 두께 분석, 서피스 거칠기 특성, 선 너비 프로파일링 (높은 정확도와 반복 가능성) 등 다양한 도량형 작업을 수행할 수 있습니다. 고급 측정 기능 외에도, DEKTAK 8 머신은 사용자 친화적 인 인터페이스와 직관적인 소프트웨어 (measurement and analysis process) 를 갖추고 있습니다. 이 소프트웨어를 사용하면 측정 매개변수, 데이터 분석 설정, 보고 형식을 사용자 정의할 수 있으므로 연구, 개발, 품질 관리 (Quality Control) 용도의 정확하고 상세한 도량형 보고서를 쉽게 생성할 수 있습니다. BRUKER DEKTAK 8 도구는 또한 전동 스테이지 제어, 다중 샘플 포지셔닝 옵션, 배치 측정 기능 등 고급 자동화 기능을 제공하여 고출력 테스트 환경에서 생산성과 효율성을 향상시킵니다. 이러한 자동화 (automation) 기능을 사용하면 여러 샘플에서 한 번의 실행으로 빠르고 정확한 측정을 수행할 수 있으므로 측정 시간이 단축되고 처리량이 증가합니다. VEECO/BRUKER/SLOAN DEKTAK 8 자산의 또 다른 주목할만한 특징은 실리콘, III-V 화합물, 사파이어, 유리 및 폴리머를 포함한 광범위한 웨이퍼 크기와 재료와의 호환성입니다. 이 다재다능성은 반도체 제조, 재료 연구, 박막 증착 (Thin film deposition) 및 정확한 표면 프로파일링 및 도량형이 필수적인 다른 산업에서 다양한 응용 분야에 적합한 모델을 만듭니다. 전반적으로 VEECO DEKTAK 8 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비는 정확하고 안정적인 표면 측정 및 분석을위한 최첨단 솔루션을 나타냅니다. 첨단 기술, 사용자 친화적 인터페이스, 자동화 기능, 다양한 샘플 유형과의 호환성을 통해 반도체 및 자재 과학 산업의 연구/개발, 품질 관리, 프로세스 최적화에 유용한 툴이 됩니다.
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