판매용 중고 THERMA-WAVE TP 3300 #9093527

THERMA-WAVE TP 3300은 반도체 웨이퍼에 정확하고 안정적인 결과를 제공하기 위해 설계된 정밀 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 시스템은 광학 기술, 주사 전자 현미경 (SEM), 열 이미징 및 기타 다양한 고급 기술의 조합을 사용하여 비교할 수없는 정확한 측정을 달성합니다. 이 제품은 반도체 업계에서 일관되고 정확한 박막 (Thin-film) 데이터를 생산하는 데 사용되므로 고품질 반도체 제품을 개발할 수 있습니다. 이 장치는 자동 웨이퍼 레벨 정렬 및 테스트로 시작합니다. 정렬 기계는 광학 현미경, 촉각 감지, 레이저 스캐닝을 결합하여 웨이퍼 표면의 물리적 특징을 감지하고 매핑합니다. 이 정보는 박막 프로브 (Thin-film Probe) 를 정확하게 배치하는 데 사용되므로 측정 정밀도와 반복성이 향상됩니다. 이 도구에는 또한 열전도, 열저항성, 열전도 (thermal resistivity), 열전도 (thermal capacity) 등 웨이퍼의 열 특성을 특성화하는 다양한 열 테스트 방법 (예: 적외선 열전도 및 열전도) 이 포함됩니다. 이 정보는 장치의 주요 매개변수 (예: 공정 온도, 열 흐름, 열 효율) 를 분석하는 데 사용됩니다. 에셋에는 또한 고급 스캐닝 전자 현미경 (SEM) 이 포함되어 있으며, 이를 통해 웨이퍼 미세 구조에 대한 심층 분석이 가능합니다. 이 모델은 고해상도 SEM 이미징 (SEM Imaging) 및 분석을 통해 웨이퍼의 컴포넌트 모양, 그레인 크기, 물리적 결함을 특성화할 수 있습니다. 이 정보는 열 테스트 (thermal testing) 의 다른 데이터와 결합하여 디바이스의 성능에 대한 완전한 그림을 제공합니다. 또한 TP 3300 장비에는 NSM (near-field scanning microscopy), CV (capacitance-voltage) 미터 및 profilometer와 같은 다양한 고급 도량형 기술이 포함됩니다. 이 도구를 사용하면 웨이퍼 (wafer) 특성에 대한 보다 포괄적인 분석을 통해 고품질, 신뢰성 있는 반도체 장치를 개발할 수 있습니다. THERMA-WAVE TP 3300 시스템은 고급 웨이퍼 테스트 및 도량형 플랫폼으로, 고품질, 신뢰성 있는 반도체 장치를 생산하기 위한 정확하고, 안정적이며, 종합적인 데이터를 제공합니다. 정렬, 열 테스트, 주사 현미경의 조합으로 인해 모든 반도체 제작 작업에 귀중한 도구가됩니다.