판매용 중고 SOUND TECHNOLOGY 1710A #9192601

SOUND TECHNOLOGY 1710A Wafer Testing and Metrology 장비는 반도체 웨이퍼의 프로세스 제어 및 도량형을 위한 고급적이고 강력한 솔루션입니다. 이 시스템은 고속 옵티컬 인코더와 최첨단 GPU (Graphics Processor Unit) 를 결합하여 정확하고 포괄적인 데이터 수집, 분석, 통찰력을 제공합니다. 1710A는 임계 치수, 선형성, 처리량 속도, 웨이퍼 두께 (wafer thickness) 및 기타 관련 특성 등의 매개변수에 대한 매우 정확하고 반복 가능한 측정을 제공합니다. 이 장치는 정확도를 향상시키기 위해 2/3 nm의 각도 해상도를 사용합니다. 이 제품은 광학 절대 위치 인코딩 기술 (optical absolute position encoding technology) 을 통한 동작 제어를 통해 기계에서 웨이퍼의 위치를 즉각적으로 인식할 수 있으며, 시간 소모적인 수동 조정이 필요하지 않습니다. 이 툴의 구성 가능한 설계를 통해 고객의 특정 요구 사항에 맞게 조정할 수 있습니다 (영문). 직관적인 그래픽 사용자 인터페이스 (Graphical User Interface) 를 통해 자산 운영을 단순화하고 효율성을 높일 수 있습니다. 내장된 통계 분석 툴은 웨이퍼에 대한 포괄적인 분석을 제공하며, 지능적인 프로세스 제어를 가능하게 합니다. 또한 SOUND TECHNOLOGY 1710A (SOUND TECHNOLOGY 1710A) 에는 정교한 웨이퍼 매핑 및 이미징 모델이 있으며, 각 기능의 정확한 위치가 2D 및 3D 형식으로 표시됩니다. 웨이퍼 매핑 장비는 현미경, 카메라 및 레이저 조명을 지원하므로 표면 지형을 매우 정확하게 측정 할 수 있습니다. 또한, 웨이퍼 매핑 시스템 (wafer mapping system) 은 웨이퍼 표면에 걸쳐 광학 또는 전기 특성의 큰 변형을 감지하도록 구성 될 수있다. 이 장치는 모듈식 (modular) 설계를 통해 유연성이 높으며, 더 크고 복잡한 어플리케이션에 맞도록 확장할 수 있습니다. 또한 내장된 호스트 (호스트) 의 적응형 데이터 관리 툴을 통해 많은 양의 데이터를 손쉽게 이동, 관리할 수 있습니다. 1710A Wafer Testing and Metrology 기계는 반도체 웨이퍼의 프로세스 제어 및 도량형을위한 강력하고 정확하며 포괄적 인 도구입니다. 웨이퍼 형상 (wafer geometry) 과 지형 (togography) 을 매우 정확하게 측정하여 정확하고 반복 가능한 분석 및 프로세스 제어를 가능하게 합니다. 모듈식 설계, 직관적인 사용자 인터페이스, 내장된 통계 분석 도구, 데이터 관리 툴이 결합되어 wafer testing (웨이퍼 테스트) 및 metrology (도량형) 를 위한 포괄적이고 비용 효율적인 솔루션이 됩니다.