판매용 중고 SOLVISION Precis 3D #9298870

SOLVISION Precis 3D는 micro 및 nanoscale의 MEMS 구조 및 구조의 표면 지형 (예: 경사, 거칠기 및 스텝 높이) 을 측정하기 위해 설계된 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 시스템은 메인 콘솔 (main console) 과 도량형 헤드 (metrology head) 로 구성되며 광학 간섭법 (optical interferometry) 과 스캔 프로브 현미경 (scanning probe microscopy) 기능을 모두 갖추고 있습니다. 도량형 헤드 (metrology head) 는 수직 및 수평 정밀 동작 단위에 부착되어 다양한 측정 옵션을 사용할 수 있습니다. 기계의 광학 간섭 (optical interferometry) 기능은 3D 표면 지형 이미징을 위해 방사형 스캐닝 단계와 함께 초점 간섭계 (confocal interferometer) 설정을 사용합니다. 간섭계 (interferometer) 에는 표면의 정밀 초점 및 스캔을 가능하게하는 2 개의 작은 piezo-actuator가 포함되어 있습니다. 간섭계 (interferometer) 의 데이터는 샘플 형상 및 서피스 지형의 이미지를 생성하는 데 사용됩니다. Precis 3D 도구의 스캐닝 프로브 현미경 (scanning probe microscopy) 기능은 마이크로 및 나노 스케일의 다양한 기하학적 특징과 표면 거칠음을 빠르게 측정하기위한 강력하면서도 간단한 도구입니다. 자산은 원자력 현미경 (AFM) 을 사용하여 나노 구조와 같은 다양한 샘플에서 표면 지형을 측정합니다. 피에 조 (Piezo-actuator) 가 주동하여 스캔 영역을 제어하는 AFM (AFM) 의 작은 팁 이동을 지원하여 모델은 비파괴 방식으로 샘플을 스캔 할 수 있습니다. 마지막으로, SOLVISION Precis 3D 장비에는 고급 분석 및 데이터 처리 소프트웨어가 포함되어 있어 이미지를 빠르고 정확하게 분석 할 수 있습니다. 이 소프트웨어는 즉석에서 데이터를 수정하고, 분석/통신을 위한 보고서를 생성할 수 있습니다. 요약하자면, Precis 3D 시스템은 3D 표면 지형 측정을위한 매우 다재다능하고, 정확하며, 사용자 친화적 인 도구이며, MEMS와 나노 스케일 구조에서 광학 간섭계와 스캔 프로브 현미경 사이의 간격을 해소합니다. 이 장치는 자동차 산업, 생의학 공학 (biomedical engineering) 에 이르기까지 광범위한 산업에서 사용하기에 적합합니다.