판매용 중고 SOLVISION Nano 3D #9174273

SOLVISION Nano 3D 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비는 웨이퍼 에지 및 결함 검사 및 측정을 위해 설계된 다기능 고급 솔루션입니다. 이 시스템은 프로파일 감지 및 컨투어 추적 측정 응용 프로그램을위한 뛰어난 3D 도량형 기능을 제공합니다. 3D 구조화 라이트 스캐닝 기술을 활용하여 크기 치수 평가 및 서피싱 분석의 최대 정확도를 달성합니다. 이 장치는 사용자 친화적이며 작동하기 쉽습니다. 자동 투어 가이드 (automated tour guide) 기능이있는 고속 감지 머신 (high-speed sensing machine) 을 사용하여 광선을 전체 웨이퍼로 빠르고 정확하게 안내합니다. 공구의 스캔 속도는 3.2s/mm2이며 측정 정밀도는 2.5 nm입니다. 이 자산은 또한 고유한 멀티 칩 절단 (multiple-chip cutting) 원칙을 제공하여 사용자가 단일 웨이퍼를 여러 웨이퍼로 자를 수 있습니다. Nano 3D 웨이퍼 테스트 및 도량형 모델에는 이미지 인식, 모서리 감지, 세그멘테이션, 벡터화 등 다양한 이미지 프로세스 기능 어레이가 장착되어 있습니다. 장비는 자동으로 웨이퍼 모서리의 결함을 식별할 수 있으며, 크기 치수 (size dimensions) 와 서피스 특성 (surface characteric) 을 결정하는 데 효율적이고 정확한 알고리즘을 갖습니다. 또한 상세한 분석 및 이미지로 사용자 지정 검사 보고서를 생성하는 통합 보고서 생성 시스템 (Integrated Report Generation System) 을 제공합니다. SOLVISION Nano 3D 웨이퍼 테스트 및 도량형 장치에는 강력한 분석 기능이 있으며, 데이터 추가 및 수정을 위한 포괄적인 소프트웨어 모듈도 포함되어 있습니다. 이 시스템은 USB 스틱과 호환되며, 데이터 저장 및 전송을 위한 스토리지 툴이 내장되어 있습니다. 또한, 정기적인 유지 보수 및 업데이트 기능을 제공하여 최고의 성능과 안정성을 보장합니다. 나노 3D 웨이퍼 테스트 (Nano 3D wafer testing) 및 도량형 자산은 생산 라인과 함께 연구 개발 실험실에서 전문적으로 사용하도록 설계되었습니다. 이 모델은 매우 정확하고 효율적이며, 탁월한 성능을 통해 비용을 절감하고 효율성을 극대화할 수 있습니다. 자동차, 가전 제품, 의료 기기, 반도체, 광학 산업 등 다양한 애플리케이션에도 적합합니다.