판매용 중고 SOLVISION AV-6010T #9148601

SOLVISION AV-6010T는 반도체 웨이퍼의 결함을 감지하고 분석하기 위해 설계된 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 높은 정확도와 속도로, 시스템은 웨이퍼 표면에서 작은 불완전성, 결정, 입자를 감지 할 수 있습니다. 또한이 단위는 웨이퍼 두께, 타원 측정법 및 전기 특성을 측정 할 수 있습니다. AV-6010T에는 근접 범위 (1-500x) 및 초고속 확대 (500-30,000x) 의 두 가지 스캔 옵션이 있습니다. 근거리 스캐닝을 사용하면 표면 세부 사항을 관찰할 수 있으며, 초고확대 스캐닝은 오염 물질 (contaminant) 과 미세한 입자 결함 (minute particle defect) 을 정확히 파악하는 데 이상적입니다. 정확성을 보장하기 위해 기계는 주사 전자 현미경 (SEM), 원자력 현미경 (AFM), 레이저 도플러 벨로시 메트리 (LDV), 분광학 (Raman, FTIR 및 VIS) 및 단량체를 포함한 다양한 기술을 통합합니다. 결함 감지 및 분석 외에도 SOLVISION AV-6010T는 접촉 프로파일과 비접촉 프로파일을 모두 사용하여 웨이퍼 두께를 측정 할 수 있습니다. 연약한 결정에서 단단한 재료까지 광범위한 기질을 측정한이 도구는 20nm에서 600uM (M) 까지 정확하게 측정합니다. 또한이 자산은 분광 타원법 (spectroscopic ellipsometry) 및 표면 전기 특성을 포함한 여러 측정 기술을 지원합니다. 이 모델은 또한 타사 소프트웨어와 통합하여 사용자가 데이터를 제어 및 전송할 수 있도록 합니다. 모든 제어 및 측정은 단일 터치 인터페이스에서 관리됩니다. 사용이 간편한 인터페이스로 설치/작업을 최대 10 분 안에 완료할 수 있습니다. 전반적으로, AV-6010T는 웨이퍼 결함을 감지, 측정, 분석하도록 특별히 설계된 포괄적이고 신뢰할 수있는 장비입니다. 다양한 옵션과 기능을 갖춘 시스템은 다양한 유형의 어플리케이션 (정밀도 및 속도) 을 처리할 수 있습니다. 또한 사용이 간편한 인터페이스를 통해 데이터를 손쉽게 전송하고 제어할 수 있습니다. 즉, 사용자가 원활한 사용자 환경을 제공할 수 있습니다.