판매용 중고 SEMV TASV-01020-VER1 #9406833

SEMV TASV-01020-VER1은 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 완전 자동화된 독립형 시스템으로, 두께, 반사도, 표면 편평도, 재료, 전기 특성 등 실리콘 웨이퍼의 다양한 기능을 측정하는 스테이지, 광학, 소프트웨어로 구성되어 있습니다. 이 장치는 고해상도 현미경, SEM 이미징, 기타 여러 가지 혁신적인 기능과 소프트웨어와 같은 고급 이미징 기능을 제공합니다. TASV-01020-VER1의 단계는 다양한 웨이퍼 크기와 재료를 지원합니다. 리프트 스테이지, XY/R/precision 스테이지 및 종횡비, 평평 및 x-y 위치를 측정하기위한 회전 스테이지가 장착 될 수 있습니다. 객관식 "렌즈 '를 선택 할 수 있으며, 여러 가지 탐지기 들 을" 웨이퍼' 로부터 신호 를 탐지 하여 분석 하기 위하여 해석 할 수 있다. 광학 머신은 고정밀 이미징 및 측정을 제공하도록 설계되었습니다. CCD 카메라를 사용하면 스틸 이미지 (still image) 와 비디오를 캡처할 수 있으며, 이를 통해 샘플을 자세히 분석할 수 있습니다. 이 툴에는 광범위한 소프트웨어 애플리케이션 (software application) 이 포함되어 있으므로 데이터를 보다 쉽게 해석하고 결과의 정확성을 향상시킬 수 있습니다. 소프트웨어에는 샘플 데이터를 관리하고 분석하는 다양한 기능이 포함되어 있습니다. 여기에는 오류 감지, 파형 분석, 패턴 인식 및 통계 분석이 포함됩니다. 또한 wafer 에셋을 모니터링하고, 트렌드를 보고, 향후 성능을 예측할 수 있습니다. SEMV TASV-01020-VER1은 비용 효율적인 웨이퍼 테스트 및 도량형 모델로, 정확하고 효율적인 데이터 분석을 보장합니다. 리서치 (Research) 와 산업 응용 프로그램 (Industrial Application) 에 사용되므로 다양한 샘플 크기와 미세 구조에서 신뢰할 수있는 데이터를 신속하게 얻을 수 있습니다. 고급 기능, 유연한 성능, 사용이 간편한 소프트웨어, TASV-01020-VER1 은 모든 도량형 요구 사항에 적합한 강력한 선택입니다.