판매용 중고 SEMICONDUCTOR EQUIPMENT CORP 4400 #9156705

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ID: 9156705
Film stress measurement system.
SEMICONDUCTOR EQUIPMENT CORP 4400은 최첨단 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비로, 온웨퍼 (On-Wafer) 장치 측정을 위한 높은 수준의 성능, 안정성 및 정확성을 제공합니다. 이 시스템은 최신 기술과 자동 운영 (automated operating) 기능을 활용하여 광범위한 웨이퍼 (wafer) 기술을 통해 다양한 매개변수를 정확하고 정확하게 측정할 수 있습니다. 4400 유닛은 다음과 같이 측정 및 분석 할 수 있습니다. -CD (critical dimension) - 표면 평평 - 중요 치수 균일 - 프로파일 - 오버레이 - 다중 노출 구조 - 얇은 필름 - Etching 기계는 단일 및 반복 가능한 매장 산화물, 얕은 트렌치 격리, 여러 스택 레이어. 모든 SME SEMICONDUCTOR EQUIPMENT CORP 4400 도구 구성 요소는 최신 기술에서 파생되어 장치 제조업체에 필요한 정확성과 정확성을 제공합니다. 4400에는 더 정확하고 정확한 측정을 보장하는 몇 가지 기능이 있습니다. 이러한 기능에는 인텔리전스를 사용하여 각 이미지에서 샘플 경계와 기능을 찾는 독점 알고리즘, 각 샘플을 다시 정렬할 필요가 없는 직접 현미경 인터페이스 (direct microscope interface), 웨이퍼 (wafer) 의 넓은 영역을 측정할 수있는 광역 이미징 에셋 (wide-field imaging asset), 짧은 시간 내에 다른 샘플링 밀도로 측정하기 위한 빠른 스캔 모드. 또한 추가 입력/출력 인터페이스 (extra input/output interface) 및 자동 웨이퍼 인덱싱 (automated wafer indexing) 기능과 같은 다양한 옵션으로 모델을 사용자정의할 수 있습니다. 반도체 장비 코프 4400 (SEMICONDUCTOR EQUIPMENT CORP 4400) 은 쉽게 설치하고 작동할 수 있도록 설계되었으며, 기존의 모든 컴퓨터 시스템과 호환되므로 프로덕션 테스트 및 프로세스 제어에 적합합니다. 장비는 테스트 시나리오를 설정하고 시스템 작동을 제어하는 데 사용할 수 있는 소프트웨어 (software) 로 완성됩니다. 포함 된 소프트웨어는 또한 수집 된 데이터 (예: 플롯, 오버레이, 데이터 테이블 등) 의 분석 및 시각화를 허용합니다. 전체적으로, 4400 개는 견고하지만 사용자 친화적 인 웨이퍼 테스트 및 도량형 장치로서, 운영 테스트와 프로세스 제어에 이상적입니다. 이 제품은 최상위 수준의 정확성과 안정성을 제공하도록 설계되었으며, 광범위한 기능을 통해 원하는 Wafer 테스트 요구 사항을 완벽하게 충족할 수 있습니다 (영문).
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