판매용 중고 SCI FilmTek #9308945

SCI FilmTek
ID: 9308945
Ellipsometer.
SCI FilmTek은 반도체 재료의 개발 및 제조를 위해 설계된 웨이퍼 테스트 및 도량형 시스템입니다. 이 시스템은 집적회로 생산에 사용하기 전에 "웨이퍼 '의 전기적 성능을 평가할 수 있는 고정밀 (high-precision) 테스트 기능을 제공합니다. 필름 텍 (FilmTek) 은 측정 제어 및 분석, 테스트 데이터의 간편한 저장을 위한 최첨단 소프트웨어 (최첨단 소프트웨어) 를 갖추고 있으며, 이를 통해 사용자는 신속하게 정보에 액세스하고 테스트 프로세스의 정확한 기록을 유지할 수 있습니다. SCI 필름 텍 (SCI FilmTek) 의 주요 장점 중 하나는 같은 웨이퍼의 다양한 온도에서 필름 특성을 빠르게 측정하고 분석 할 수있는 기능입니다. 이것은 고급 온도 조절 테스트 챔버 (Advanced Tempered Testing Chamber) 를 통해 수행되며, 이는 웨이퍼를 원하는 온도로 따뜻하게 하거나 냉각시켜 웨이퍼를 다른 테스트 환경으로 이동할 필요가 없습니다. FilmTek은 -200C ~ + 200C ° 센티그레이드 범위의 다양한 온도에서 샘플을 테스트 할 수 있으며, 고급 자동 초점 카메라는 3.5 미크론의 인상적인 해상도를 자랑합니다. SCI FilmTek은 저항, 커패시턴스, dc 전류, 누출 전류 테스트, 표면 거칠기 등 여러 가지 유형의 웨이퍼 테스트를 측정하고 분석하도록 설계되었습니다. 또한 dc 전류 및 커패시턴스 측정에서 각각 최대 0.0001Ohm 및 0.10 pF의 우수한 측정 정확도를 제공합니다. 최고 수준의 정밀도를 보장하기 위해 FilmTek에는 저항, 커패시턴스 (capacitance) 및 기타 유형의 측정을위한 교정 옵션이 있습니다. 또한 SCI 필름 텍 (FilmTek) 은 테스트 기능 외에도 다양한 도구를 제공하여 정교한 데이터 분석을 수행하고 자세한 보고서를 생성할 수 있습니다. 내장형 시각화 (Visualization) 소프트웨어를 사용하면 테스트 결과를 보고 그래프 형태로 보고서를 작성할 수 있으므로 잠재적인 문제를 쉽게 파악하고 해결할 수 있습니다. 또한 테스트 데이터에 대한 통계 분석을 수행하는 다양한 기능 (예: 장치의 전기 매개변수를 결정하는 적합 방정식 계산 기능) 을 제공합니다. 따라서 WAFER (Wafer of Wafer) 및 해당 디바이스에 포함된 디바이스에 대해 보다 자세히 파악할 수 있습니다. 전반적으로, FilmTek은 다양한 테스트, 분석, 보고 기능을 제공하는 다목적, 강력한 웨이퍼 테스트 도구입니다. 고도의 온도 조절 (temperature control) 과 측정 정확도 (measurement accurity) 는 반도체 업계의 프로세스 제어 및 장치 개발에 이상적인 선택입니다.
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