판매용 중고 RUDOLPH MP1-300XCU #9276771

RUDOLPH MP1-300XCU
ID: 9276771
웨이퍼 크기: 12"
빈티지: 2008
Film thickness measurement system, 12" 2008 vintage.
RUDOLPH MP1-300XCU는 반도체 산업의 요구를 충족시키기 위해 설계된 고급 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 빠르고 정확한 도량형과 웨이퍼의 특성화에 최적화되어 있습니다. 이 시스템에는 최대 300mm 직경의 웨이퍼를 수용 할 수있는 웨이퍼 단계 (wafer stage) 와 웨이퍼 두께 (wafer thickness), 영역 (area), 평면도 (flatness) 와 같은 광범위한 기능을 측정하기위한 통합 광학 도량형 하위 시스템이 포함됩니다. MP1-300XCU의 성능은 최첨단 기술과 업계 최고의 기능을 바탕으로 합니다. 이 장치는 견고하고 신뢰할 수있는 모션 제어를 위한 독점적 인 선형 (linear) 과 회전 (rotary) 모터와 탁월한 도량형 정확도를 위한 최첨단 내장 컨트롤러 및 정밀 광학으로 구성됩니다. 이 기계는 또한 심층 학습을 통해 자동 웨이퍼 정렬을 포함한 고급 컴퓨터 비전 기능을 제공합니다. RUDOLPH MP1-300XCU의 주요 기능으로는 유지 보수 및 업그레이드 용이성을 위한 모듈식 디자인, 빠른 비접촉 측정을위한 다중 파장 광원, 뛰어난 해상도를위한 고밀도 이미징 하위 시스템, 직관적인 소프트웨어 제어를 위한 웹 기반 GUI (Graphical User Interface) 등이 있습니다. 또한 프로세스 매개변수 자동 모니터링, pass/fail 분석, traceability, Automated Wafer Test System 통합 등 다양한 통합 소프트웨어 기능을 제공합니다. 본 소프트웨어는 기존 시스템과 프로그램에 쉽게 통합할 수 있도록 설계되었으며, 신속하게 결함을 파악하고 프로세스 매개변수 (process parameter) 를 파악할 수 있습니다. MP1-300XCU 는 중요한 크기, 평면도 (flatness), 중요 기능 등 반도체 업계의 까다로운 요구 사항을 충족할 수 있도록 설계되었습니다. 탁월한 성능과 강력한 기능으로, 이 자산은 반도체 제작/조립 업계의 다양한 고객에게 신뢰할 수 있는 테스트 및 도량형 (metrology) 솔루션을 제공합니다.
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