판매용 중고 RUDOLPH MP1-300 #293630203

RUDOLPH MP1-300은 반도체 산업을 위해 특별히 설계된 최첨단 웨이퍼 테스트 및 도량형 시스템입니다. 단일 플랫폼에서 종합적인 웨이퍼 분석, 검사, 테스트 및 특성 기능을 제공합니다. MP1-300은 도량형 및 웨이퍼 측정을위한 자동 솔루션입니다. 이 제품은 비파괴 (non-destructive) 기술을 사용하여 웨이퍼의 광학, 전기, 기계 및 전기 특성을 측정하여 제조업체가 더 높은 수준의 품질 제어 및 보증을 달성 할 수 있습니다. 이 시스템은 전용 디지털 스캐닝 현미경 (digital scanning microscope) 을 갖추고 있어 웨이퍼 표면을 정확하고 빠르게 평가할 수 있습니다. 현미경은 전체 웨이퍼 표면의 실시간, 고해상도 이미지를 제공하므로 결함 분석 (defect analysis) 및 식별 (identification) 을 쉽게 수행할 수 있습니다. RUDOLPH MP1-300에는 전기 특성을 측정 할 수있는 전동 프로브 스테이션 (Motorized Probe Station) 이 장착되어 있습니다. 여기에는 저항력, 커패시턴스, 인덕턴스 및 저항이 포함됩니다. 이 시스템은 또한 초점 조정 가능한 렌즈 (focus-tunable lens) 를 포함하여 반사율 (reflectivity) 및 회절 (diffraction) 과 같은 광학 특성을 측정 할 수 있습니다. MP1-300 의 주요 기능 중 하나는 전용 소프트웨어로, 포괄적인 데이터 분석 및 관리 기능을 제공합니다. 사용자 친화적 인 GUI (Graphical User Interface) 를 통해 다양한 형식으로 데이터를 조작하고 표시할 수 있습니다. 이 소프트웨어는 또한 평균 제곱 (mean-square) 거칠기 (roughness) 및 표면 영역 (surface area) 과 같은 시간 의존 데이터를 포함하여 자동화된 계산을 허용하여 완전한 웨이퍼 프로파일 측정을 빠르고 정확하게 수행 할 수 있습니다. RUDOLPH MP1-300에는 매우 민감한 자동 초점 기능, 고급 광원 제어, 프로그래밍 가능한 측정 매개변수, 통합 교정 프로세스 등 다양한 추가 기능과 기능이 포함되어 있습니다. 이러한 모든 기능을 통해 매우 다양한 웨이퍼를 정확하고 안정적으로 분석할 수 있으므로 MP1-300 은 최고 수준의 품질 제어 (Quality Control) 및 측정 (Measuremet) 정확성을 보장하는 이상적인 툴입니다.