판매용 중고 RUDOLPH MP 300XCU #9389820

RUDOLPH MP 300XCU는 빠르고 정확한 성능을 위해 설계된 고정밀 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 시스템은 다양한 액세서리 첨부가있는 300mm 듀얼 빔 벡터 이미징 CCD 현미경을 사용하여 서브 미크론 해상도에서 고해상도 기능을 측정 할 수 있습니다. 웨이퍼 테스트, 검사 및 도량형 애플리케이션을 위한 실시간 이미지 처리 및 측정 기능을 제공합니다. 루돌프 MP 300 XCU (RUDOLPH MP 300 XCU) 는 신뢰할 수 있고 효율적인 머신으로, 빠른 시간 내에 뛰어난 결과와 정확성을 제공 할 수 있습니다. 여기에는 이미지 처리 소프트웨어 (예: 이미지 처리 소프트웨어) 와 같은 광범위한 기능이 포함되어 있어 이미지 및 이미지 좌표를 신속하게 처리할 수 있습니다. 또한 모든 각도 방향에서 웨이퍼 (wafer) 기능을 고대비 이미징할 수있는 멀티 빔 (multiple-beam) 유연한 조명 기술을 갖추고 있습니다. MP 300XCU에는 선폭 (line width), 스텝 높이 (step heights), 다이-투-다이 거리 (die-to-die distance) 및 에지 위치와 같은 정확한 웨이퍼 기능을 측정 할 수있는 강력하고 다용도 도량형 기능이 장착되어 있습니다. 이 장치에는 고급 이미지 임계 처리 (advanced image thresholding) 및 사용자 정의 이미지 필터 (custom image filter) 와 같은 종합적인 기능들이 포함되어 있습니다. 이 기능은 미니스큘러 기능을 신속하게 격리하고 측정할 수 있습니다. MP 300 XCU 소프트웨어에는 통계 측정 도구, 대화형 포인트 앤 클릭 측정, 고급 분석 기능 등의 기능이 포함되어 있습니다. 이 강력한 소프트웨어는 강력한 오류 처리 도구 (Error Handling Tools) 와 함께 조명이나 피쳐 모양의 변형을 수정할 수 있습니다. RUDOLPH MP 300XCU에는 웨이퍼 로드, 언로드, 위치 지정 및 정렬을 위해 설계된 다용도 샘플 처리 기계도 포함되어 있습니다. 고밀도 (High-Precision) 스테이지가 장착되어 있어 다양한 모션을 제공하며 정확하고 유연한 포지셔닝이 가능합니다. 이 도구에는 운송 단계 (Shipping Stage) 가 포함되어 있으며, 충격 흡수 장착 지점은 손상없이 샘플을 전송하고 고출력 진공 팁을 제공합니다. RUDOLPH MP 300 XCU는 검사 및 도량형 응용 프로그램을위한 빠르고 정확한 자산을 제공합니다. 고유한 기능의 조합을 통해 빠른 검사와 하위 미크론 기능의 고정밀 측정이 가능합니다. 이 기계는 속도와 정확도가 필요한 테스트 및 측정 응용 프로그램에 이상적입니다.