판매용 중고 RUDOLPH MP 300 #9235812

RUDOLPH MP 300은 고급 반도체 장치에 대한 전기, 물리적, 광학적 특성을 정확하게 측정하도록 설계된 강력한 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 첨단 도량형 기능으로 나노 미터 (nanometer) 수준의 해상도를 가능하게 하며, 이는 최신 반도체 장치의 장치 기능을 측정하는 데 이상적입니다. 이 시스템은 최대 32비트 데이터 해상도 (Precision) 를 제공하며, 웨이퍼 (Wafer) 측정 설정을 사용자 정의하는 다양한 옵션을 제공합니다. RUDOLPH MP300의 웨이퍼 테스트 기능은 강력하고 정확합니다. 전도성, 유전율 상수, 저항, 정전 등과 같은 매개변수를 측정 할 수 있습니다. 또한 정전 결합, 고장 전압, 초점 변화, 활성 영역 모양, 누출 전류 등과 같은 매개변수를 측정 할 수 있습니다. 이 장치의 광학 테스트 기능에는 좁은 편광 제어, 다중 색상 테스트, 반사 광학 측정, 다중 스펙트럼 특성 분석 등이 포함됩니다. MP-300은 또한 고급 교정 및 인터페이스 기능을 제공하여 정확한 웨이퍼 측정을 보장합니다. 직관적 인 사용자 인터페이스와 포괄적 인 패라메트릭 설정이 특징입니다. 이 시스템은 개방형 통신 프로토콜 (open communication protocol) 을 지원하므로 다른 시스템 또는 시스템과 통합할 수 있습니다. 또한, 여러 입력 형식을 사용할 수 있으며, 공장 자동화 시스템과 통합하도록 구성할 수 있습니다. 편리성과 유연성을 위해 이 툴은 모듈식 (modular) 구조를 제공하며, 이를 통해 사용자는 개별 요구 사항에 맞게 테스트 설정을 사용자 정의할 수 있습니다. 정교한 소프트웨어 애플리케이션을 통해 사용자는 신속하게 테스트를 구성하고 최적화할 수 있습니다. 이 소프트웨어는 또한 기간별 데이터를 저장하고, 안전하게 추적 가능한 형식을 제공합니다. MP 300은 고급 웨이퍼 테스트 및 도량형에 이상적인 도구입니다. 광범위한 측정 및 테스트 구성을 처리할 수 있으며, 모듈식 (modular) 구조는 최대의 사용자 정의 및 확장성을 보장합니다. 고급 보정 (calibration) 및 인터페이스 (interface) 기능을 통해 정확하고 정확한 웨이퍼 데이터를 측정할 수 있는 신뢰성이 높은 자산입니다.