판매용 중고 RUDOLPH MP 300 #9098967

RUDOLPH MP 300은 최첨단 반도체 제조를 위해 개발 된 강력한 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 고급 산업 센서 및 검출기를 사용하여 die 컴포지션, wafer yield, uniformity 및 electrical properties와 같은 RUDOLPH MP300 웨이퍼의 주요 제조 특성 및 특성을 식별합니다. 자가 정렬 단계 (self-aligning stage) 와 특허받은 미크론 내성 웨이퍼 (micron-tolerance wafer) 포지셔닝 시스템을 통해 기계는 다양한 크기의 최대 450 웨이퍼의 특성을 동시에 정확하고 안정적으로 측정하고 문서화 할 수 있습니다. MP-300은 고해상도 카메라를 사용하여 전문 조명 기술과 함께 웨이퍼 (wafer) 이미지를 캡처, 분석하여 각 개별 웨이퍼의 표면 및 라미네이션을 측정합니다. 온보드 컴퓨터 프로그램 (On-board computer program) 을 통해 각 웨이퍼의 다이 (Die) 및 와이어 (Wire) 패턴을 측정하고 비교할 수 있으며 온도 및 기타 환경 요소를 측정 할 수 있습니다. 또한, 기계는 각 웨이퍼 (wafer) 의 정확한 전기 특성을 분석하여 마이크로 프로세서, 메모리 및 논리 회로에 사용할 적합성을 결정할 수 있습니다. 그것의 고급 알고리즘은 또한 웨이퍼 (wafer) 의 잠재적 결함을 식별하고 과도한 수분 조건을 감지하는 데 도움이 될 수 있습니다. 또한 MP300 에는 자동화된 웨이퍼 테스트, 측정 수집 및 분석, 보고서 작성 등을 지원하는 정교한 제어 엔진이 포함되어 있습니다. 이 도구 는 많은 수 의 "웨이퍼 '에 대하여 동시 에 여러 번 의" 테스트' 를 하도록 "프로그램 '될 수 있으며, 많은 수 의" 테스트' 를 빠르고 정확 하게 분석 할 수 있다. 또한, 각 RUDOLPH MP-300은 ovens 및 datagraph 시스템과 같은 다른 시스템과 통합되어 원격 데이터 수집 및 보고가 가능합니다. MP 300 (약 300) 은 경쟁력이 뛰어난 반도체 제조 업계에서 웨이퍼의 속성을 측정, 테스트 및 문서화하는 데 이상적인 기계입니다. 정교한 센서 (sensor), 검출기 (detector), 고급 알고리즘 (advanced algorithm) 을 통해 광범위한 제조 특성을 포괄적이고 정확하게 특성화하여 프로세스 제어 및 분석에 유용한 툴이 됩니다. 안정적이고 반복 가능한 성능으로 반도체 제조를 위한 탁월한 선택입니다.