판매용 중고 RUDOLPH Metapulse #9244787

RUDOLPH Metapulse
ID: 9244787
빈티지: 1999
Thin film thickness measurement system 1999 vintage.
루돌프 메타 펄스 (RUDOLPH Metapulse) 는 최첨단 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비로, 웨이퍼 샘플을 테스트하고 분석하는 효율적인 방법을 찾는 반도체 제조업체 및 연구 기관에 이상적입니다. 이 시스템은 안정적인 도량형 결과와 6,000 개가 넘는 달성 가능한 매개변수 판독값으로 정확성을 위해 설계되었습니다. RUDOLPH META PULSE는 NSAM (non-contact scanning acoustic microscopy) 및 SLI (non-contact structured light imaging) 기술을 사용하여 높은 해상도로 정확한 결과를 제공합니다. 각 장치에는 고품질 센서와 고급 레이저 머신 (Advanced Laser Machine) 이 장착되어 있어 다양한 파장에서 자동 웨이퍼 테스트 및 측정이 가능합니다. 도량형 도구 (metrology tools) 는 다양한 웨이퍼 재료를 정확하고 빠르게 적응하고 측정하기 위해 설계되었습니다. 고급 (Advanced) 알고리즘을 사용하면 웨이퍼 서피스 스트레스를 정확하게 예측하고 결함 깊이를 계산하여 측정 시간을 단축하고 보다 정확한 결과를 얻을 수 있습니다. 또한, 메타 펄스 (Metapulse) 는 사용자에게 자산이 작동함에 따라 수집 및 저장된 풍부한 데이터를 제공합니다. 이 데이터는 테스트 보고서에 포함될 수 있습니다. 따라서 고객은 wafer flatness, wafer topography, scaned image, other physical features 등의 정보를 쉽게 볼 수 있습니다. 또한, 이 모델은 직관적인 사용자 인터페이스 (User Interface) 를 통해 사용자가 장비를 신속하게 설치, 운영하여 모든 경험 수준의 사용자에게 적합합니다. 또한 메타 펄스 (META PULSE) 는 다양한 인터페이스 옵션을 제공하여 온라인/오프라인/웨이퍼 이미지를 모두 볼 수 있습니다. 그리고 여러 언어를 지원하면 모든 환경에서 RUDOLPH Metapulse를 사용할 수 있습니다. 요약하면, RUDOLPH META PULSE는 고해상도로 정확한 결과를 제공 할 수있는 고성능 웨이퍼 테스트 및 도량형 시스템입니다. 이 제품은 다양한 웨이퍼 (wafer) 재료를 빠르고 쉽게 분석할 수 있도록 설계되었으며, 제조업체와 연구 기관이 가장 정확하고 효율적인 웨이퍼 테스트 결과를 얻을 수 있도록 지원합니다.
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