판매용 중고 RUDOLPH MetaPulse G #293752830
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RUDOLPH MetaPulse G는 반도체 웨이퍼 생산에서 최적의 성능을 위해 설계된 혁신적인 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 시스템은 결함 감지 (Defect Detection) 에서 다이 크기 및 모양 (Die Size and Shape), 항복 최적화 (Yield Optimization) 등에 이르기까지 다양한 Wafer 매개변수의 특성화에 대한 종합적인 통합 측정을 제공합니다. MetaPulse G는 비접촉 도량형, 열 이미징, 웨이퍼 결함 분석, 사용자 정의 검사 등 다양한 웨이퍼 측정 기능을 제공합니다. 비접촉 도량형은 고해상도 (High Resolution) 와 자동화 (Automation) 를 사용하여 나노 미터 범위까지의 기능을 갖춘 빠르고 정확한 웨이퍼 측정을 수행합니다. 이것은 접촉 및 비 접촉 프로브의 다이 크기, 모양, 피치 및 간격 측정에 이상적입니다. 열 영상 (thermal imaging) 기능은 웨이퍼 상의 다이 (dies) 위치를 빠르게 식별하고 각 다이 (die) 특성의 전체 뷰를 제공합니다. 이러한 수준 (세부 정보 및 정확성) 은 더 나은 수익률 최적화 및 비용 절감 효과를 제공합니다. 웨이퍼 결함 분석 (wafer defect analysis) 기능은 고급 알고리즘을 사용하여 웨이퍼 결함을 빠르고 정확하게 감지, 표시 및 분류합니다. 이렇게 하면 품질과 수익률이 높아집니다. 사용자 정의 검사 (custom inspection) 기능을 사용하면 열 이미징 (thermal imaging) 및 사용자 정의 알고리즘 (custom algorithm) 과 같은 다양한 기술을 결합한 전용 매개변수를 지정하여 엄청나게 포괄적인 웨이퍼 분석을 수행할 수 있습니다. 전반적으로 RUDOLPH MetaPulse G는 웨이퍼 테스트 및 도량형을위한 효율적이고 강력한 장치를 제공합니다. 사용자 고급/자동 기능을 제공하여 특성화와 결함 탐지를 위한 정확한 측정 (measuration) 을 보장합니다. 이 기계의 다재다능성은 반도체 생산 (semiconductor production) 사용자들에게 이상적입니다. 모든 요구를 충족시킬 수 있는 다양한 웨이퍼 (wafer) 측정 기능을 제공하기 때문입니다.
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