판매용 중고 RUDOLPH MetaPulse 200 #9202785

ID: 9202785
웨이퍼 크기: 8"
빈티지: 1999
Thin film thickness metrology system, 8" 1999 vintage.
RUDOLPH MetaPulse 200은 강력하고 정교한 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 반도체 제조에 사용되어 웨이퍼 (wafer) 특성을 결정하고 웨이퍼 (wafer) 에 대한 정확하고 신뢰할 수있는 데이터를 제공합니다. RUDOLPH META PULSE 200은 다양한 도량형 및 웨이퍼 테스트 기능을 수행 할 수있는 다목적 자동 시스템입니다. 단일 작업에서 집적 회로 웨이퍼의 물리적, 전기적, 화학적 특성을 감지하도록 설계되었습니다. 이 장치는 임계 치수, 창, 전기 저항, 광학 강도 및 기타 웨이퍼 특성과 같은 피쳐를 정확하게 측정 할 수 있습니다. 메타 펄스 200 (MetaPulse 200) 은 광학 및 전기 스캔과 같은 고급 측정 기술을 사용하여 높은 정밀 도량형 및 테스트 결과를 제공합니다. 이 기계는 고해상도 이미징 도구, LED 어레이, 검출기 어레이로 구성되어 결과를 캡처하고 분석합니다. 또한 고급 분석 툴과 사용자 정의 보고서 생성 (Custom Report Generation) 기능을 제공하는 특수 소프트웨어 패키지가 장착될 수 있습니다. 메타 펄스 200 (META PULSE 200) 에는 통합 샘플 처리 자산이 장착되어 있어 한 번에 최대 12 개의 웨이퍼를 쉽게 이동, 전송 및 분석할 수 있습니다. 이 빠르고 효율적인 모델은 컨덕턴스 (conductance), 유전체 특성 (dielectric properties), 산화물 두께 (oxide thickness) 등 여러 매개변수를 측정할 수 있습니다. 또한, 이 장비는 직관적인 사용자 인터페이스 (user interface) 를 통해 장비 사용 방법과 도량형 (metrology) 및 웨이퍼 (wafer) 테스트 작업을 효율적으로 수행할 수 있습니다. RUDOLPH MetaPulse 200은 매우 유연하고 신뢰할 수있는 웨이퍼 테스트 및 도량형 시스템으로, 다양한 응용 프로그램에 사용하기에 적합합니다. '신뢰성 있고 정확한' 성능은 반도체 업계에서 매우 가치와 선호도가 높은 선택입니다. 이 다목적 장치는 고품질 집적회로 제조에 필수적인 웨이퍼 (wafer) 특성에 대한 정확한 데이터를 제공하는 데 특히 유용합니다.
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