판매용 중고 RUDOLPH MetaPulse 200 #293766451

RUDOLPH MetaPulse 200 Wafer Testing and Metrology Equipment는 반도체 웨이퍼 및 기타 관련 기판의 테스트 및 계측 응용을 위해 특별히 설계된 자동 시스템입니다. 이 장치는 고해상도 이미징 (High Resolution Imaging) 과 인공 구조물의 테스트 및 분석을 위한 스테이지 스캐닝 머신을 제공합니다. 다이 (die) 의 양쪽을 스캔하여 다이 레벨 도량형 프로세스 (die-level metrology process) 와 결함 검토 (defect review) 를 포함한 다양한 응용 프로그램에 적합합니다. 이 도구는 직접 이미징 기술과 함께 고해상도 광학 (optic) 을 사용하여 반도체 (semiconductor) 또는 기타 기판의 상단 및 하단 고해상도 이미징을 모두 수행할 수 있습니다. 이미지 (이미지) 는 25nm (해상도) 까지 만들 수 있으며, 에셋은 특정 응용 프로그램에 따라 다양한 조정 가능 매개변수가 특징입니다. 또한 자동화된 스테이지 스캐닝 (Stage-Scanning) 장비를 통해 사용자가 한 곳에서 다이 (Die) 또는 다중 다이 (Multiple Die) 의 전체 영역을 스캔할 수 있습니다. 이 스캔 시스템을 사용하면 넓은 지역에 대한 정확도 (high-accuracy), 고속 (high-speed) 검토를 단기간에 수행할 수 있습니다. 이 장치에는 다양한 데이터 획득 하드웨어 (Data Acquisition Hardware) 와 소프트웨어 (Software) 가 장착되어 있으므로 여러 테스트 결과를 분석하고 비교할 수 있습니다. 이 기계에는 여러 분석 제품군이 포함되어 있으며, 사용자는 임계 치수 (CD) 측정, 에지 임계 값 측정, 세분화 측정, 통계 분석 등과 같은 다이 레벨 및 결함 관련 매개변수를 분석 할 수 있습니다. RUDOLPH META PULSE 200은 또한 다양한 인터페이스 옵션을 제공하여 외부 시스템 및 데이터베이스에 쉽게 연결할 수 있습니다. 이 툴은 다양한 컴퓨터, 운영 체제 (OS) 와 호환되므로 사실상 모든 기존 인프라와 호환됩니다. 이 자산은 또한 다양한 자동 데이터 가져오기/내보내기 (import/export) 형식을 지원하므로 결과를 다른 사용자와 저장, 분석, 공유하기 쉽습니다. 전체적으로 MetaPulse 200 Wafer Testing and Metrology Model은 빠르고 정확하며 안정적인 데이터 테스트를 제공하도록 설계된 완벽한 장비입니다. 이 시스템은 자동화된 스테이지 스캐닝 (Stage-Scanning) 기술 외에도 다양한 고급 데이터 분석 옵션 (Advanced Data Analysis Option) 을 제공하며, 이를 통해 사용자는 신속하게 결과를 검토하고 다양한 애플리케이션에서 정확한 프로세스 제어를 수행할 수 있습니다.