판매용 중고 ORC MEM-5926D #9080493

ORC MEM-5926D는 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비로, 반도체 제조에 대한 품질 관리 및 정확한 측정을 제공하도록 설계되었습니다. 시스템 의 혁신적인 기능과 성능을 통해 안정적이고 정확한 결과를 얻을 수 있습니다. 여기에는 광범위한 Metrology Parameter, HT (High Throughput) 기능, 품질 관리 및 프로세스 모니터링을 위한 데이터 수집 등이 포함됩니다. 이 장치의 고급 광학 (advanced optics) 은 광학 신호에 대한 진정한 스펙트럼 분석을 제공하여 모든 측정에서 정확성과 반복성을 허용합니다. 강력 한 "레이저 '원 은 인접 한" 레이저' 모듈 로 결함 을 탐지 하는 데 적합 한 반면, 표본 속도 가 높으면 신속 하고 정확 하게 결과 를 얻을 수 있다. 모든 기능을 갖춘 직관적인 사용자 인터페이스는 광학-전기 측정을 위한 빠른 설정 및 설정을 제공하는 반면, 전용 소프트웨어 (MultiGauge) 는 데이터 조작, 신호 처리, 데이터 저장/검색을 용이하게 합니다. MEM-5926D는 강력한 실시간 3D 이미징 머신으로 설계되어, 복잡한 웨이퍼 (wafer) 또는 장치 구조를 매우 정밀하게 측정할 수 있습니다. 또한, 이 도구는 광범위한 자동/수동 프로버와 호환되므로, 실제로 모든 wafer 테스트 어플리케이션에 적합합니다. ORC MEM-5926D의 7 축 프로버 자산 (prober asset) 은 높은 처리량과 정밀한 자동 프로브를 보장하므로 최소한의 오류로 빠르고 반복적인 측정이 가능합니다. 또한 Wafer MAP (Wafer Map) 에 적합한 기능을 제공하며 Waper Map 을 신속하게 전환하여 빠르고 정확한 데이터 수집 및 감소를 보장합니다. 또한 MEM-5926D 장비는 최신 PCI Express 기술을 제공하여 보다 강력한 제어 및 향상된 데이터 관리를 지원합니다. 업계 최고의 성능과 탁월한 유연성을 자랑하는 ORC MEM-5926D 는 반도체 업계를 위한 이상적인 wafer test 및 metrology 솔루션입니다.