판매용 중고 ORC MEM-5296D #293642944

ORC MEM-5296D는 반도체 제조업체를 위해 설계된 정교한 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. wafer 특성을 정확하게 측정하기위한 통합 하드웨어, 소프트웨어 및 기술이 특징입니다. 이 시스템은 다양한 반도체 재료에서 웨이퍼 응력, 표면 질감 및 기타 현미경 패턴을 측정 할 수 있습니다. MEM-5296D에는 고해상도 5축 스테이지 (high-resolution 5-axis stage) 와 자동 측정 장치 (automated measurement unit) 가 장착되어 있어 표면 거칠기, 표면 결함 및 두께 변화와 같은 중요한 매개변수에 대한 정밀도가 높은 분석에 이상적입니다. 정확한 데이터를 확보하기 위해, 기계는 정확하고 정확한 측정을 위해 정밀한 백래시 (backlash-free) 드라이브, 단단한 구조 및 긴 이동 범위를 자랑합니다. 또한, 최대 4 개의 웨이퍼를 동시에 스캔하여 넓은 측정 영역을 다룰 수 있습니다. 이 도구에는 최첨단 하드웨어 및 소프트웨어가 장착되어 있어 매우 정확한 결과를 보장합니다. 고급 측정 광학 장치 (Advanced Measurement Optics) 는 넓은 시야의 고해상도 이미징을 제공하며, 실시간 이미지 처리는 정확한 데이터를 보장하도록 설계되었습니다. 자동 단계 (automatic stage) 는 다양한 동작 매개변수를 사용하여 샘플 위치를 제어하는 데 도움이 되며, 빠른 스캐닝을 허용합니다. 또한, ORC MEM-5296D는 여러 인터페이스와 호환되므로 기존 도량형 시스템과의 원활한 통합이 가능합니다. 에셋은 아날로그 (analog) 또는 디지털 입력을 통해 제어할 수 있으며, 측정 장비와 쉽게 통신할 수 있는 이더넷 (Ethernet) 및 USB 인터페이스가 포함되어 있습니다. 또한 LabVIEW 는 데이터 분석 및 보고서 생성을 자동화합니다. MEM-5296D 는 까다로운 어플리케이션에 적합한 솔루션으로, 빠르고 정확한 전체 측정 기능이 필요합니다. 표면 특성화, 결함 감지, 낮은 수준의 스트레스 결정, 컨투어 매핑 (contour mapping) 등 다양한 응용 프로그램에 사용할 수 있습니다. 첨단 소프트웨어, 정밀 옵틱 (precision optics), 효율적인 측정 모델을 갖춘 이 제품은 안정적이고 정확한 웨이퍼 테스트 (wafer test) 및 도량형 솔루션을 필요로 하는 모든 반도체 제조업체에 적합한 제품입니다.