판매용 중고 OPTEK 712VA #9383811

OPTEK 712VA Wafer Testing and Metrology 장비는 자동화된 환경에서 높은 정확성과 반복성이 필요한 어플리케이션을 위해 설계되었습니다. 이 플랫폼은 적용 가능한 측정을위한 독점 소프트웨어 솔루션을 갖춘 7 세대 OPTEK 테스트 및 도량형 시스템을 기반으로합니다. 이 시스템은 높은 정확도와 반복성을 지닌 높은 처리량 (throughput) 측정값을 제공하며 하이엔드 측정을 달성하기 위해 양방향 작동, 전동 서열 제어, 온도 조절 등 다양한 기능을 제공합니다. 이 장치는 두께 매핑 (Thickness Mapping), 전기 장치 특성 (Electrical Device Characterization) 및 평면 패널 디스플레이 테스트 (Flat Panel Display Testing) 및 도량형 (Metrology) 을 포함한 기타 측정을 포함하여 다양한 응용 프로그램에 걸쳐 빠른 측정을 수행 할 수 있습니다. 카메라에는 200mm 둥글고 400mm (직사각형) 의 넓은 시야가 있어 다양한 구성 요소 측정이 가능합니다. 광학 감지 기계에는 정밀 도량형 및 테스트 결과를 위해 10 x 10 배열의 HD 프로브가 있습니다. 또한, 이 도구는 고해상도 데이터로 빠르고 민감한 커패시턴스 측정을 가능하게 하는 고급 커패시턴스 프로파일 (Capacitance Profiling) 자산 (Asset) 을 갖추고 있습니다. 다양한 웨이퍼 (wafer) 측정에 대한 강력한 제어를 지원하는 8 축 모션 모델 (motion model) 도 장비의 핵심 구성 요소입니다. 시스템의 측정 범위는 0.5m에서 5mm이며 최대 측정 가능한 드리프트는 2ppm/min입니다. 자동 시퀀스 (Automated Sequence) 를 제공하여 뛰어난 자동 반복성을 제공하고 다중 데이터 (Multiple Dataset) 를 측정할 수 있습니다. 또한 시스템 사용자 인터페이스는 사용자에게 직관적인 그래픽 사용자 인터페이스 (Graphical User Interface) 를 제공하여 여러 측정 및 매개변수를 쉽게 자동화할 수 있습니다. 또한 712VA (예제 메모리) 에는 최대 300 개의 샘플을 저장하여 여러 시스템 간에 쉽게 액세스하고 공유할 수 있습니다. OPTEK 712VA에는 다양한 하드웨어/소프트웨어 기능이 장착되어 있어 사용자의 정확성, 반복성, 뛰어난 성능을 보장합니다. 효율적이고, 안정적이며, 강력한 도구로서, 자동화된 환경에서 작업할 때에도 사용자가 정확성과 반복성을 얻을 수 있습니다. 광범위한 기능과 기능을 갖춘 712VA는 웨이퍼 테스트 (wafer testing) 와 도량형 (metrology) 을 위한 귀중한 자원입니다.