판매용 중고 OHKURA DP2301A01 #9374940

OHKURA DP2301A01 웨이퍼 테스트 (wafer testing) 및 도량형 장비 (metrology equipment) 는 다양한 산업에서 사용되는 고급적이고 신뢰할 수있는 자동화된 프로세스 도구입니다. 이 도구는 고정밀도 웨이퍼 (Wafer) 측정 및 테스트를 수행하도록 설계되었으며, 생산 설비가 최고의 품질 및 정확도 (Quality and Accuracy) 표준을 충족하도록 합니다. DP2301A01 시스템은 수평 듀얼 모션 테스트 단계 (horizontal dual motion test stage) 를 갖추고 있어 두 방향으로 정밀한 이동을 동시에 수행할 수 있습니다. 이것은 큰 측정 범위와 효과적인 작업 평면을 제공합니다. 듀얼 모션 스테이지에는 렌즈 프리 (lens-free) 이미지 획득 기계를 사용하는 2축 비전 유닛 (vision unit) 이 장착되어 있어 넓은 필드 깊이의 고해상도 이미징이 가능합니다. OHKURA DP2301A01 도구는 독점 이미지 처리 소프트웨어로 구동되며, 운영자가 빠르고 정확하게 웨이퍼를 측정 및 테스트 할 수 있습니다. 스크래치, 칩, 고르지 않은 서피스와 같은 표면의 결함을 감지 할 수 있습니다. 또한 CCD 다이오드 레이저를 사용하여 높은 수준의 정밀도로 측정합니다. 자산에는 자동 청소 모델이 장착되어 있습니다. 따라서 오염이 없는 환경이 가능하므로 운영자가 웨이퍼에 대해 정확하고 반복적으로 측정 할 수 있습니다. DP2301A01 장비의 표준 클리닝 주기는 55 분으로, 웨이퍼는 항상 깨끗하게 유지되고 오염이 없습니다. OHKURA DP2301A01 시스템에는 여러 가지 다른 기능이 있으며, 이는 이상적인 테스트 및 도량형 도구입니다. 편리한 GUI (그래픽 사용자 인터페이스) 를 통해 장치 작동을 간소화하고 다운타임을 줄일 수 있습니다. 또한 내장된 교정기 (calibration machine) 도 포함되어 있어 수동 교정이 필요 없으며, 다양한 환경에서 사용할 수 있습니다. 요약하자면, DP2301A01 Wafer Testing and Metrology Asset (DP2301A01 Wafer Testing and Metrology Asset) 은 매우 정밀한 웨이퍼 측정 및 테스트를 가능하게 하고 정확성과 반복 가능성을 제공하도록 설계된, 매우 안정적이고 자동화된 프로세스 도구입니다. 듀얼 모션 스테이지, 렌즈가없는 이미징 모델, CCD 다이오드 레이저, 자동 청소 장비, 직관적인 사용자 인터페이스 및 내장 교정 시스템 등 여러 가지 고급 기능이 있습니다.