판매용 중고 NANOMETRICS / BIO-RAD / ACCENT CDS 200 #293600166

ID: 293600166
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM).
NANOMETRICS/BIO-RAD/ACCENT CDS 200은 반도체 제조의 생산 및 연구 애플리케이션을 위해 설계된 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 하나의 시스템에서 CD-SEM (Critical Dimension Scanning Electrical Microscopy) 및 CD-AFM (Critical Dimension Atomic Force Microscopy) 기능을 모두 제공합니다. 모든 유형의 반도체 재료에 대해 매우 높은 해상도, 반복 가능한 측정을 제공 할 수 있습니다. ACCENT CDS 200 장치는 Windows 10 Professional x64 또는 Windows 7 Professional x64 운영 체제에서 작동하도록 구성되며 사용자 설정을 사용자 정의할 수 있는 소프트웨어와 함께 제공되므로 사용자의 요구에 신속하게 대처할 수 있습니다. 이중축 서보 제어 (dual-axis servo-controlled) 스테이지가 장착되어 뛰어난 정확성과 속도, 효율성을 제공합니다. BIO-RAD CDS 200은 DSP (Integrated Digital Signal Processing) 및 DIP (Digital Image Processing) 를 사용하여 업계 표준을 초과하는 해상도로 중요한 차원 측정을 수행합니다. NANOMETRICS CDS 200에는 CD-SEM 및 CD-AFM과 같은 웨이퍼에서 광범위한 측정이 가능한 고정밀, 고속 스캔 디지털 신호 프로세서 (DSP) 가 있습니다. DSP는 반복 가능하고, 안정적이며, 정확한 결과를 통해 재조합이 가능한 전기 측정 기능을 제공합니다. CDS 200 에는 현재 제공되는 가장 향상된 이미징 기능 중 하나가 탑재되어 있습니다. 실시간 및 사후 처리 모드 모두에서 초고해상도 이미징을 제공합니다. 또한 자동 초점 제어 (Focus Control) 와 결과를 최적화하는 다양한 멀티 샘플 툴도 포함되어 있습니다. NANOMETRICS/BIO-RAD/ACCENT CDS 200에는 최대 해상도가 4K 인 새로운 과학 등급 카메라가 장착되어 있으며 초고해상도와 뛰어난 명암비로 컬러 이미지를 캡처 할 수 있습니다. 또한 이미지를 분석, 수정하여 정확성과 신뢰성을 보장하는 정교한 소프트웨어를 제공합니다. 또한 ACCENT CDS 200에는 다각도 반사계 (multi-angle reflectometer) 와 통합 다각도 측정기 (integrated multi-angle measurement machine) 가 장착되어 있어 모든 샘플 측정에 대한 다양한 수동 제어를 제공합니다. BIO-RAD CDS 200은 반도체 제조에 이상적인 툴로 다양한 기능을 제공합니다. 초고해상도 이미징 (Ultra-High Resolution) 이미징과 스캐닝 (Scanning) 의 조합과 높은 신뢰성과 반복 가능한 측정으로, 이 도구는 모든 웨이퍼 테스트 및 도량형 요구에 적합한 선택입니다.
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