판매용 중고 NANOMETRICS Atlas #9251048

ID: 9251048
빈티지: 2006
OCD Metrology system 2006 vintage.
NANOMETRICS Atlas는 반도체 장치의 고정밀 분석을 위해 설계된 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. 이 제품은 Fab 수준 및 웨이퍼 수준 전기 분석, 웨이퍼 매핑 (wafer mapping) 및 치수 측정, 결함 감지, 제조 및 반도체 테스트 산업의 고객이 프로세스 제어를 개선하고 수익률 손실을 예상할 수 있도록 자동화된 플랫폼입니다. 아틀라스 (Atlas) 는 속도와 정확성의 독특한 조합을 제공하여 제조 및 테스트 프로세스를 신속하게 최적화할 수 있습니다. 이 시스템은 작고 유연한 설치 공간을 제공하여 운영 환경에서 현장 설치 (on-site installation) 에 이상적입니다. NANOMETRICS Atlas는 최고 정밀 도량형과 최첨단 감지 기술을 결합하여 정확하고 안정적인 측정을 보장합니다. 이 장치에는 저지대 웨이퍼 스캔 단계, 3 개의 전용 도량형 헤드 (치수, 전자 빔 (EB) 기반 결함 감지 및 자동 광학 검사) 및 자동 프로브 스테이션이 포함되어 있습니다. 중요한 전기적 매개변수의 동시 피드백 (feedback) 과 패턴화 된 광학 및 도량형 데이터로 테스트 패턴 (test pattern) 을 사용할 수 있습니다. Atlas 는 고급 EB (EB) 기능 덕분에 상향식 (top-down) 에치 프로파일 분석 기능과 더불어 상세한 wafer 매핑 및 전기 데이터를 제공할 수 있습니다. 또한, 시스템은 고급 스캐닝 (Scanning) 및 테스트 속도 향상 (Test Speed Enhancment) 기능을 추가하여 처리량을 높이고 성능을 향상시키도록 최적화되었습니다. NANOMETRICS Atlas (NANOMETRICS Atlas) 는 다양한 구성을 제공하며, 다양한 사양을 통해 특정 요구에 맞게 도구를 사용자 정의할 수 있습니다. 안전하고 잘 갖추어진 소프트웨어 환경을 통해 신속한 설치, 복잡한 프로젝트 착수 (start of complex project) 를 실현할 수 있습니다. 실시간 데이터 공유/보고 기능을 통해 새로운 프로세스를 더욱 신속하게 조정하고 검증할 수 있습니다. 요약하자면, Atlas는 반도체 장치 분석 및 테스트를위한 다재다능하고 효율적인 웨이퍼 테스트 및 도량형 자산입니다. 속도 (speed) 와 정확도 (accuracy) 를 결합하여 제조 및 테스트 프로세스를 최적화하여 궁극적으로 생산성을 향상시키고 수익률 손실을 줄입니다.
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