판매용 중고 NANOMETRICS Atlas XP #9384918

NANOMETRICS Atlas XP는 최신 IC (Integrated Circuit) 설계의 요구를 위해 특별히 설계된 고성능 웨이퍼 테스트 및 도량형 장비입니다. On-wafer (OW) 장치 전기 특성, 도량형 및 생산 테스트 응용 프로그램 등 다양한 관련 매개변수를 측정하는 데 뛰어난 이점을 제공합니다. NANOMETRICS ATLAS-XP (NANOMETRICS ATLAS-XP) 는 오프라인 테스트 및 분석을 필요로 하지 않으면서 탁월한 속도와 정확성을 제공할 수 있습니다. Atlas XP는 안정적이고 반복 가능한 테스트 결과를 위해 특별히 설계된 고급 아키텍처로 설계되었습니다. 이 아키텍처는 최고의 하드웨어/펌웨어 구성요소를 결합하여, 가장 광범위한 디바이스/기술 애플리케이션에서 높은 처리 성능, 높은 정확도를 자랑하는 데이터 캡처, 유연한 운영을 가능하게 합니다. 조정 가능한 Probe-Card 구성을 통해 시스템은 저항, 커패시턴스 (Capacitance), 격리 (Isolation), 이동성 (Mobility) 등 다양한 장치 매개변수를 검사하고 테스트할 수 있습니다. 고급 열 관리 (Thermal Management) 를 통해 전력 소비를 최소화하면서 다양한 온도 범위에서 지속적인 테스트를 수행할 수 있습니다. ATLAS-XP는 빠르고 정확한 온웨퍼 패라메트릭 테스트를 제공합니다. 두 매개변수를 동시에 측정하면 기존 테스터 (Tester) 보다 우위를 점할 수 있으므로 프로덕션 테스트의 처리량이 증가합니다. 또한, NANOMETRICS Atlas XP는 가장 효율적인 데이터 분석 기능을 제공하여 수집된 데이터에서 의미 있는 정보를 빠르고 정확하게 추출할 수 있습니다. NANOMETRICS ATLAS-XP는 빠르고 정확한 데이터 수집 및 고급 데이터 분석 기능을 지원합니다. 장치에서 캡처한 데이터는 명확하고 직관적인 GUI (Graphical User Interface) 로 제공됩니다. 또한, 다양한 매개변수를 측정하고 포괄적인 보고서에 참여할 수 있도록 설계된 단일/다중 단계 웨이퍼 테스트 (single-step wafer testing) 프로토콜도 포함되어 있습니다. 마지막으로, 아틀라스 XP (Atlas XP) 는 업계 표준 자동화 및 로봇 공구와 완벽하게 호환되며, 이 장치를 운영 라인 또는 랩 환경에 원활하게 통합할 수 있습니다. 이를 통해 운영자는 사용자 지정 테스트/평가 작업을 신속하게 개발하고, 전반적인 프로세스 흐름을 개선하여 생산성을 대폭 향상시킬 수 있습니다. 아틀라스 -XP (ATLAS-XP) 는 다양한 어플리케이션에서 강력한 성능을 제공하는 고급, 고성능 웨이퍼 테스트 및 도량형 시스템입니다. 하드웨어, 펌웨어, 소프트웨어의 강력한 조합으로, 속도, 정밀도, 그리고 운영 테스트, 도량형 (Metrology) 작업을 수행하는 데 적합한 장치 매개변수를 측정할 수 있습니다.