판매용 중고 NANO SYSTEM NVM-3025 CIS #9153463

NANO Equipment NVM-3025 CIS는 정밀 도량형을 염두에 둔 상업 및 산업 요구 사항을 유지하기 위해 설계된 웨이퍼 테스트 및 도량형 시스템입니다. NANO Unit에서 제조 한이 올인원 (All-in-One) 성능은 반도체 웨이퍼의 저수준 및 고급 테스트 및 도량형을 모두 할 수 있습니다. NVM-3025 CIS에는 다음과 같은 다양한 응용 프로그램에 적합한 기능이 있습니다. 고해상도 이미징: NANO Machine NVM-3025 CIS는 픽셀당 최대 5m까지 이미지 해상도를 제공하도록 설계되어 반도체 장치. 이것은 트랜지스터 게이트 길이 분석에서 에치 깊이 특성화에 이르기까지 모든 것에 사용될 수 있습니다. 자동 서피스 거칠기 특성: 이 도구는 몇 초 만에 서피스 거칠기, 서피스 토폴로지, 두께 등의 매개변수를 측정할 수 있습니다. 이를 통해 프로세스 제어 및 결함 분석을위한 완벽한 도구가 됩니다. 고속 스캔: NVM-3025 CIS 직관적인 인터페이스 및 고속 스캔은 웨이퍼 스캔, 데이터 분석, 결과를 단 18 초 만에 제공할 수 있습니다. 이 기능을 통해 사용자는 프로세스 최적화, Critical Defect Inspection 및 기타 애플리케이션과 관련된 문제를 신속하게 파악할 수 있습니다. 다중 도구 조합: NANO Asset NVM-3025 CIS는 다중 단계 조합을 허용하여 복잡한 도량형 작업을 용이하게 할 수 있습니다. 이 모델은 서피스 러프 프로필러 (surface roughnessprofiler), 현미경 시스템 (microscope system), 간섭계 (interferometer) 및 기타 등 다양한 특수 도구와 함께 사용할 수 있습니다. 다중 레벨 마이크로 레벨 제어: NVM-3025 CIS는 다중 레벨 마이크로 레벨 제어 시스템을 사용하여 정확한 도량형 결과를 제공합니다. 이 장비는 중요한 매개변수의 정확한 작동 및 측정이 가능하므로, 시스템이 정확하고 반복 가능한 결과를 제공할 수 있습니다. 품질 보증 자동화: NANO Unit NVM-3025 CIS는 웨이퍼 레벨 테스트 데이터의 품질 보증을 지원하는 자동화 프로토콜로 프로그래밍됩니다. 유력한 머신은 '실시간' 결과를 분석하고, '이상' 이 감지되면 즉시 인력을 경고할 수 있습니다. NVM-3025 CIS는 반도체 웨이퍼의 정밀 도량형에 이상적인 선택입니다. 고해상도 이미징 (high-resolution imaging), 빠른 스캐닝 속도 (rapid scanning speed) 및 미세하게 튜닝된 자동화 프로토콜 (automation protocol) 을 통해 운영 현장에서 매우 유용한 툴이 됩니다.