판매용 중고 N&K 3300 #9378632

N&K 3300 Wafer Testing and Metrology Equipment는 웨이퍼의 전기 특성을 빠르고 정확하게 측정 할 수있는 고성능 기계입니다. 하드웨어 구성요소, 소프트웨어, 다양한 센서를 조합하여 효과적인 '완벽한 테스트' 솔루션을 만들 수 있습니다. 시스템의 핵심은 소형화 된 레이저 빔 스캐너 (laser beam scanner) 와 웨이퍼 (wafer) 표면의 힘의 크기와 방향을 측정하는 이중 힘 센서 (dual force sensor) 입니다. 이를 통해 장치가 전기 특성 (electrical properties) 의 특성을 신속하게 파악하고 웨이퍼 성능에 대한 자세한 보고서를 생성할 수 있습니다. 이 기계는 테스트 프로세스의 정확성과 속도를 향상시키도록 설계된 다양한 소프트웨어 (software) 툴을 갖추고 있습니다. 이 소프트웨어를 통해 운영자는 장치 성능을 모니터링하고, 데이터 측정을 조정하고, 일상적인 작업을 자동화할 수 있습니다. 이 소프트웨어에는 다양한 알고리즘 (algorithms) 과 분석 (analytics) 이 포함되어 있어 연산자가 wafer 성능의 문제 영역이나 경향을 쉽게 식별할 수 있습니다. 운영자가 정보에 입각한 의사 결정을 내릴 수 있도록 이 툴에는 데이터 분석 도구 (예: 분산된 그래프, 성능 측정기) 가 포함되어 있는 통합 데이터 분석 제품군 (Integrated Data Analysis Suite) 도 포함되어 있습니다. 또한 개별 웨이퍼 성능에 대한 보고서를 생성할 수 있습니다. 이를 통해 운영자는 신속하게 문제를 파악하고 필요한 사항을 조정할 수 있습니다. 마지막으로, 자산에는 웨이퍼 작업 중 방사선, 먼지, 기타 위험 (hazard) 으로부터 운영자를 보호하기 위해 다양한 안전 기능이 장착되어 있습니다. 이 기계는 또한 음향 진동 센서 (acoustic vbration sensor) 와 같은 여러 가지 고급 기능을 통합하여 관련된 모든 사람의 안전을 보장합니다. 전체적으로 3300 개의 웨이퍼 테스트 (wafer testing) 및 도량형 (metrology model) 은 매우 강력하고 효율적인 자동 장비로, 운영자가 웨이퍼의 성능을 빠르고 정확하게 측정하고 모니터링할 수 있도록 설계되었습니다. 이 시스템은 최고 수준의 정확성과 신뢰성을 보장하는 고급 하드웨어 (advanced hardware) 와 소프트웨어 (software) 의 조합으로 구축되었습니다. 즉, 다양한 애플리케이션의 Wafer 성능을 측정해야 하는 고객에게 이상적인 장치입니다.